[发明专利]一种二极管极性检测方法与系统

权利要求书

1.一种二极管极性检测方法，其特征在于，包括：

获取待检测二极管的图像；

根据所述二极管的图像获取所述二极管的浅色环的位置信息；

根据所述二极管的浅色环的位置信息识别出所述二极管的极性。

2.如权利要求1所述的二极管极性检测方法，其特征在于，

所述获取待检测二极管的图像具体为获取横向放置的待检测二极管的灰度图；

所述根据所述二极管的图像获取所述二极管的浅色环的位置信息具体包括：

计算所述灰度图中每一列像素的灰度均值；

根据所述每一列像素的灰度均值对应地计算每一列像素的灰度标准差；

根据所述每一列像素的灰度均值以及所述每一列像素的灰度标准差，计算所述灰度图在列方向的灰度加权平均值；

将每一列像素的灰度均值分别与所述列方向的灰度加权平均值比较，获取灰度均值小于或等于所述列方向的灰度加权平均值的列区间；

根据所述灰度均值小于或等于所述列方向的灰度加权平均值的列区间获取所述二极管的浅色环的位置信息。

3.如权利要求2所述的二极管极性检测方法，其特征在于，所述计算所述灰度图中每一列像素的灰度均值具体根据以下公式计算：

MEAN(y)=1heightΣx=0height-1PGray(x,y)]]>

其中，Mean(y)为第y列像素的灰度均值，P_Gray(x,y)为第x行第y列的像素的灰度，x∈[0，height)，y∈[0，width)，height为所述灰度图的高，width为所述灰度图的宽；

所述根据所述每一列像素的灰度均值对应地计算每一列像素的灰度标准差具体根据以下公式计算：

MSE(y)=1heightΣx=0height-1[PGray(x,y)-MEAN(y)]2]]>

其中，MSE(y)为第y列像素的灰度标准差；

所述根据所述每一列像素的灰度均值以及所述每一列像素的灰度标准差，计算所述灰度图在列方向的灰度加权平均值具体根据以下公式计算：

Yweight_mean=Σy=0width-1MEAN(y)·MSE(y)Σy=0width-1MEAN(y)]]>

其中，Yweight_mean为所述灰度图在列方向的灰度加权平均值。