[发明专利]一种测试高密度机柜内部震动对IO性能影响的方法在审

专利信息
申请号: 201410840199.9 申请日: 2014-12-30
公开(公告)号: CN104484254A 公开(公告)日: 2015-04-01
发明(设计)人: 孙玉超;张锟 申请(专利权)人: 浪潮电子信息产业股份有限公司
主分类号: G06F11/22 分类号: G06F11/22
代理公司: 济南信达专利事务所有限公司 37100 代理人: 姜明
地址: 250101 山东*** 国省代码: 山东;37
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摘要:
搜索关键词: 一种 测试 高密度 机柜 内部 震动 io 性能 影响 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及服务器IO性能测试,具体地说是一种测试高密度机柜内部震动对IO性能影响的方法。

背景技术

随着各行各业飞速的进入到大数据时代,高密度机柜以占地面积小,容纳大量节点,具有可同时承载更多数据业务的优势,被越来越多的应用在了各个行业内。

高密度服务器机柜-Smart Rack通常包含20至40个相同结构与近似配置的服务器节点,并通过背面一个强力的风扇阵列作为主要的散热装置。这个风扇阵列通常由3*5至3*10个风扇组成,并且由机柜管理控制器(Rack Manage Control,RMC)自动调整或者通过对RMC设置固定转速,达到不同的散热效果。但同时在不同的转速下,由于多个风扇同时高速转动,会对机柜自身带来了一定频率的震动,而震动又会对磁盘的IO性能带来一些影响。所以在测试中,对机柜自身震动可能对IO性能产生的影响的检测显得尤为重要。

Expect是一种可以实现模拟人手工与机器互动的编程语言,使用它可以创建脚本用来实现对命令或程序提供输入,并且可以根据这些命令或程序得到的结果进行进一步的操作。通过Expect编写的程序可以使用一种自动的方式对RMC和服务器节点进行控制。基于Expect技术,本发明提出一种测试高密度机柜内部震动对IO性能影响的方法。

发明内容

为了进一步了解机柜在风扇阵列不同转速时对磁盘IO性能带来的影响,本发明提供一种测试高密度机柜内部震动对IO性能影响的方法。

本发明所述一种测试高密度机柜内部震动对IO性能影响的方法,解决上述技术问题采用的技术方案如下:该方法是一种测试高密度机柜风扇阵列工作时产生的震动对磁盘IO性能影响的方法,通过在Linux系统下编译一个Expect脚本,对机柜RMC和测试节点进行远程控制,在RMC进行风扇转速的调节,在测试节点上使用fio磁盘检测工具对节点IO性能进行测试,并收集测试数据;最后根据收集到的测试数据与基线数据进行对比,来分析风扇阵列在不通转速下产生的震动对服务器IO性能产生的影响。该方法主要包括前置工作部分、控制RMC设置风扇转速部分和远程控制各个测试节点部分。

所述前置工作部分:将机柜中的全部节点按照物理位置从下到上顺序设置节点名称并分配IP地址,分配完成后配置好ssh自动登陆;依次点亮所有节点的BMC标识LED,检测各节点网络是否通畅;节点网络配置完成后,将RMC的IP地址设置成相同网段下的一IP;并在控制节点上安装expect库。

所述控制RMC设置风扇转速部分,主要是编写基于expect工具的脚本,通过RMC调整风扇组功率的方式设置风扇转速。

所述远程控制各个测试节点部分,是指登陆至各个测试节点,当每次调整完风扇转速待风扇转速平稳后,远程操作各测试节点,在测试节点上运行fio磁盘检测工具测试磁盘IO性能,并收集IO性能测试数据。

所述基线数据,是指风扇震动干扰状态下的IO性能测试数据。

本发明的一种测试高密度机柜内部震动对IO性能影响的方法与现有技术相比具有的有益效果是:使用本发明所述测试方法,可以在充分的检测出机柜在各种不同的风扇转速下的IO性能,并通过与静态条件下磁盘性能的比对,判断出机柜在风扇阵列不同转速时对磁盘IO性能带来的影响;该方法可用于高密度机柜磁盘IO性能分析、以及相应的数据统计。

具体实施方式

为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白,以下结合具体实施例,对本发明所述一种测试高密度机柜内部震动对IO性能影响的方法进一步详细说明。

本发明所述一种测试高密度机柜内部震动对IO性能影响的方法,是一种测试高密度机柜风扇阵列工作时产生的震动对磁盘IO性能影响的方法,通过在Linux系统下编译一个Expect脚本,对机柜RMC和测试节点进行远程控制,在RMC进行风扇转速的调节,在测试节点上使用fio磁盘检测工具对节点IO性能进行测试,并收集测试数据。最后根据收集到的测试数据与基线数据进行对比,来分析风扇阵列在不通转速下产生的震动对服务器IO性能产生的影响。该方法快捷方便、易操作、并能避免人工出错。

实施例1:

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