[发明专利]一种APS星敏感器动态曝光时间调整方法有效
| 申请号: | 201410838397.1 | 申请日: | 2014-12-29 |
| 公开(公告)号: | CN104567864A | 公开(公告)日: | 2015-04-29 |
| 发明(设计)人: | 钟红军;杨孟飞;杨君;卢欣;王龙;李晓 | 申请(专利权)人: | 北京控制工程研究所 |
| 主分类号: | G01C21/02 | 分类号: | G01C21/02 |
| 代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 安丽 |
| 地址: | 100080 *** | 国省代码: | 北京;11 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 aps 敏感 动态 曝光 时间 调整 方法 | ||
技术领域
本发明涉及一种APS星敏感器动态曝光时间调整方法,适用于空间飞行器用恒星敏感器领域。
背景技术
星敏感器是一种光学成像式敏感器,用于空间姿态的高精度测量。星敏感器在轨工作时,采用敏感器视场恒星光电成像与局域天区或全天球星图匹配的方法,确定星敏感器光轴在惯性空间的指向,利用敏感器本体坐标系和卫星姿态坐标系的转换关系,确定卫星姿态。星敏感器具有高精度、高可靠性等特点,广泛应用于卫星、飞船及导弹等飞行器平台上。
目前众多卫星平台都需要具有在轨机动能力,卫星在机动时最大的特点就是具有较大的机动角速度,在大角速度下有效快速输出姿态是星敏感器一个重要技术指标。星敏感器动态性能的提升最有效的方法就是调整曝光时间,减小星像在星图上的拖尾。在不同角速度条件下,星敏感器需要具有动态调整曝光时间的能力,并且在动态调整曝光时间的同时,需要尽可能快的输出有效姿态信息。
现有动态曝光时间调整技术中,当接收到曝光时间调整信号,先读出当前帧图像数据,再打断当前的曝光流水,进行重新曝光。曝光结束后,再对图像数据进行读出,进入新曝光时间档位。该方法的缺点是曝光流水会打断,需要重新进行曝光,即在接收到曝光时间调整信号后,至少需要2帧图像时间才能得到新曝光时间下图像数据,如果曝光时间很长,则会严重影响星敏感器的数据更新率。
另一种动态曝光时间调整技术如《基于自适应曝光的CMOS图像传感器的设计与实现》(作者:陆尧,姚素英,徐江涛;出处:光电子.激光)等文献所述,提出了一种基于3T结构的图像传感器动态调整曝光时间方法,该方法设置了两组复位寄存器,用于记录调整曝光时间。该方法的缺点是只能设置小于65ms的曝光时间调整范围,曝光调整时固有延时需要一帧图像时间。
发明内容
本发明解决的技术问题是:克服现有技术的局限性和不足,结合4T图像传感器特点,提出了一种APS星敏感器动态曝光时间调整方法,可以实现多档曝光时间的无缝动态调整,在曝光时间动态调整时不打断曝光流水,减小了曝光时间调整过程中数据读出时间间隔,达到动态调整曝光时间时的快速姿态输出要求。
本发明的技术方案是:一种APS星敏感器动态曝光时间调整方法,步骤如下:
1)设4T图像传感器面阵大小为M×M,以读出一行的时间T us为基础曝光单位;
2)在FPGA内部设置曝光时间档位寄存器register_IT,并设置N档曝光时间,N为正整数;
3)根据处理器写入的新曝光时间档位,确定相应的曝光调整公式,计算获得曝光空闲行数和读出空闲行数,在一行时间内,通过打开关闭像素电荷转移开关,控制读出和曝光操作,曝光在空闲行时,不执行曝光操作,读出在空闲行时,不执行读出操作;空闲行曝光完成后,进入新曝光时间档位卷帘曝光流水,完成新曝光时间档位设置;
所述确定相应的曝光调整公式的具体方法为:设当前曝光时间档位为old_integration_time,新曝光时间档位为new_integration_time,则曝光时间变化分为两大类,一类为曝光时间增加,一类为曝光时间减小;曝光时间增加又细分为两种情况,一种是old_integration_time<M×T,另一种是old_integration_time≥M×T;当为第一种情况曝光时间增加,即
old_integration_time<M×T时,新档位下读出空闲行数Read_dummy_line=base_expo(n)+add_expo(n)-base_expo(m)+10,新档位下曝光空闲行数Reset_dummy_line=10;当为第二种情况曝光时间增加,即
old_integration_time≥M×T时,新档位下读出空闲行数Read_dummy_line=base_expo(n)+add_expo(n)-base_expo(m)+10,新档位下曝光空闲行数Reset_dummy_line=10,第二帧新档位下曝光空闲行数
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京控制工程研究所;,未经北京控制工程研究所;许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410838397.1/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。





