[发明专利]一种测试夹具

说明书

技术领域

本发明涉及射频微波测量领域，尤其涉及一种测试夹具。

背景技术

测试夹具属于治具下面的一个类别，专门对产品的功能、功率校准、寿命、性能等进行测试、试验的一种治具。现有技术中，可以通过50Ω测试夹具对微波功率管进行测试，然而该测试夹具没有设计阻抗变换功能，进而其PA(Power Amplifier：功率放大器)存在着阻抗严重失配问题，导致低频振荡，这种情况下，被测件很容易烧毁。

为了解决上述问题，现有技术中又生产了一种通过偏置电路进行供电的测试夹具，可以应用于Load pull(负载牵引)系统中测试封装好的功放管。此种夹具偏置电路采用1/4波长微带线进行射频开路，随着频率的升高，固定板材下的1/4波长微带线发生变化，不能起到射频开路作用，把夹具带宽限制的比较窄，大大降低了夹具的适用范围，导致测试一只功放管需使用多个夹具相结合才能完成，增加了校准复杂性，另外测试成本将会成倍增加。

发明内容

本发明提供一种测试夹具，以解决现有技术中测试夹具要么容易导致被测件被损坏、要么测试带宽较窄的技术问题。

本发明实施例提供一种测试夹具，包括：第一测试电路、第一斯坦变换渐变微带线、第二斯坦变换渐变微带线及第二测试电路；

所述第一测试电路包括：射频输入端；第一90°混合电桥，所述第一90°混合电桥的输入端连接于所述射频输入端；第二90°混合电桥，所述第二90°混合电桥的-90°相位输出端连接于所述第一90°混合电桥的0°相位输出端，所述第二90°混合电桥的0°相位输出端连接于所述第一90°混合电桥的-90°相位输出端，所述第二90°混合电桥的输入端连接于所述第一斯坦变换渐变微带线的第一端；第一电源，所述第一电源的第一端连接于所述第一90°混合电桥的隔离端，所述第一电源的第二端接地；第一电阻，所述第一电阻的第一端连接于所述第二90°混合电桥的隔离端，所述第一电阻的第二端接地；

所述第一斯坦变换渐变微带线的阻抗大小由第一端至第二端逐渐变小；

所述第二斯坦变换渐变微带线的阻抗大小由第一端至第二端逐渐增加；

所述第二测试电路包括：第三90°混合电桥，所述第三90°混合电桥的输入端连接于所述第二斯坦变换渐变微带线的第二端；第四90°混合电桥，所述第四90°混合电桥的-90°相位输出端连接于所述第三90°混合电桥的0°相位输出端，所述第四90°混合电桥的0°相位输出端连接于所述第三90°混合电桥的-90°相位输出端；第二电源，所述第二电源的第一端连接于所述第四90°混合电桥的隔离端，所述第二电源的第二端接地；第二电阻，所述第二电阻的第一端连接于所述第三90°混合电桥的隔离端，所述第二电阻的第二端接地；射频输出端，连接于所述第四90°混合电桥的输入端。

可选的，所述第一斯坦变换渐变微带线的阻抗大小由50欧姆变换至4.2欧姆。

可选的，所述第二斯坦变换渐变微带线的阻抗大小由4.2欧姆变换至50欧姆。

可选的，所述测试夹具还包括：

至少一个第一电容，至少一个第一电容的每个第一电容的正极连接于所述第一90°混合电桥的隔离端和所述第一电源之间，每个第一电容的负极接地。

可选的，所述测试夹具还包括：

至少一个第二电容，至少一个第二电容的每个第二电容的正极连接于所述第四90°混合电桥的隔离端和所述第二电源之间，每个第二电容的负极接地。

可选的，在对被测件进行测试时，所述被测件的第一端连接于所述第一斯坦变换渐变微带线的预设阻抗大小位置；所述被测件的第二端连接于所述第二斯坦变换渐变微带线的所述预设阻抗大小位置。

可选的，所述测试夹具还包括：

支撑件，设置于所述第一测试电路、所述第一斯坦变换渐变微带线、所述第二斯坦变换渐变微带线及所述第二测试电路底部。

本发明有益效果如下：

由于在本发明实施例中，提供了一种测试夹具，包括：第一测试电路、第一斯坦变换渐变微带线、第二斯坦变换渐变微带线及第二测试电路，其中第一测试电路包含第一90°混合电桥和第二90°混合电桥，第二测试电路包含第三90°混合电桥和第四90°混合电桥，其中四个90°混合电桥既能够起到偏振电路的作用，从而防止阻抗失配，同时四个90°混合电桥与两个斯坦变换渐变微带线的组合又能够起到扩展射频带宽的作用，进而达到了在保证测试被测件的安全的同时，提高测试带宽的技术效果；