[发明专利]一种高精度红外热像测温方法及系统有效

专利信息
申请号: 201410836953.1 申请日: 2015-08-04
公开(公告)号: CN104501969A 公开(公告)日: 2015-07-29
发明(设计)人: 姜磊;易尚潭 申请(专利权)人: 浙江兆晟科技有限公司
主分类号: G01J5/10 分类号: G01J5/10
代理公司: 广东国晖律师事务所 44266 代理人: 谭宗成
地址: 310023 浙江省杭州市*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 高精度 红外 测温 方法 系统
【权利要求书】:

1. 一种高精度红外热像测温方法,其特征在于,包括由红外焦平面传感器组成的红外焦平面传感器阵列、光学机构、处理器单元,所述高精度红外热像测温方法包括如下步骤:

采集灰度图像:通过所述红外焦平面传感器阵列和所述光学机构获取探测区域的灰度图像,所述灰度图像包括参考物和待测对象的灰度图像;

获取参考物的温度及灰度值:获取参考物的温度及灰度图像中参考物灰度图像区域的灰度值;

获取待测对象的灰度值及第一温度:获取灰度图像中待测对象灰度图像区域的灰度值,根据当前红外焦平面传感器阵列的工作温度下的定标温度和图像灰度值的对应曲线关系,获取待测对象的第一温度;

获取温度差:将待测对象的灰度值与参考物的灰度值相减,得到灰度差,根据所述第一温度与图像灰度值的变化关系以及所述灰度差得到温度差;

获取待测对象的温度:利用所述参考物的温度和所述温度差得到待测对象的温度。

2.根据权利要求1所述高精度红外热像测温方法,其特征在于,还包括对采集的灰度图像进行校正。

3.根据权利要求2所述高精度红外热像测温方法,其特征在于,对采集的灰度图像进行校正方法如下:预存红外焦平面传感器阵列不同工作温度条件下的多幅温度均匀物体的灰度图像,获取当前采集的灰度图像与预存的多幅温度均匀物体的灰度图像的差值,将差值最均匀的灰度图像与采集的灰度图像做差进行校正。

4.根据权利要求1所述高精度红外热像测温方法,其特征在于,在获取参考物的温度时,所述参考物上设置温度采集模块和通讯模块,所述处理器单元通过所述通讯模块获取所述参考物的温度。

5.根据权利要求1所述高精度红外热像测温方法,其特征在于,在获取参考物的温度时,还包括在所述处理器单元设置参考物的温度。

6.根据权利要求1所述高精度红外热像测温方法,其特征在于,在获取参考物的温度及灰度值步骤中,所述参考物灰度图像区域包括参考物灰度图像的全部区域或部分区域。

7.一种高精度红外热像测温系统,其特征在于,包括由红外焦平面传感器组成的红外焦平面传感器阵列、光学机构、处理器单元、采集灰度图像的采集模块、参考物温度获取模块、参考物灰度值获取模块、待测对象灰度值获取模块、第一温度获取模块、温度差获取模块、待测对象温度获取模块,所述采集模块通过所述红外焦平面传感器阵列和光学机构获取探测区域的灰度图像,所述灰度图像包括参考物和待测对象的灰度图像;所述参考物温度获取模块获取参考物的温度;所述参考物灰度值获取模块获取灰度图像中参考物灰度图像区域的灰度值;所述待测对象灰度值获取模块获取灰度图像中待测对象灰度图像区域的灰度值;根据当前红外焦平面传感器阵列的工作温度下的定标温度和图像灰度值的对应曲线关系,所述第一温度获取模块获取待测对象的第一温度;所述温度差获取模块将待测对象的灰度值与参考物的灰度值相减,得到灰度差,所述温度差获取模块根据所述第一温度与图像灰度值的变化关系以及所述灰度差得到温度差;所述待测对象温度获取模块利用所述参考物的温度和所述温度差得到待测对象的温度。

8.根据权利要求7所述高精度红外热像测温系统,其特征在于,还包括进行图像校正的图像校正模块,所述图像校正模块预存红外焦平面传感器阵列不同工作温度条件下的多幅温度均匀物体的灰度图像,将当前采集的灰度图像与预存的多幅温度均匀物体的灰度图像的差值,将差值最均匀的灰度图像与采集的灰度图像做差进行校正。

9.根据权利要求7所述高精度红外热像测温系统,其特征在于,所述参考物上设置温度采集模块和通讯模块,所述处理器单元通过所述通讯模块获取所述参考物的温度。

10.根据权利要求7所述高精度红外热像测温系统,其特征在于,还包括温度报警模块,所述温度报警模块设置待测对象的温度阈值,所述温度报警模块在所述待测对象温度获取模块获取的待测物温度高于所述温度阈值时报警。

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