[发明专利]一种高亮度近紫外LED及其外延生长方法在审

专利信息
申请号: 201410836566.8 申请日: 2014-12-29
公开(公告)号: CN104485404A 公开(公告)日: 2015-04-01
发明(设计)人: 贾传宇;于彤军;殷淑仪;张国义;童玉珍 申请(专利权)人: 北京大学
主分类号: H01L33/06 分类号: H01L33/06;H01L33/32;H01L33/00
代理公司: 北京万象新悦知识产权代理事务所(普通合伙) 11360 代理人: 贾晓玲
地址: 100871*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 亮度 紫外 led 及其 外延 生长 方法
【权利要求书】:

1.一种高亮度近紫外发光二极管,其特征在于,该发光二极管外延为层状叠加结构,从下向上的材料依次为:图形化蓝宝石衬底、低温GaN成核层、高温非掺杂GaN缓冲层、n型GaN层、n-Inx1Ga1-x1N/Aly1Ga1-y1N超晶格应力释放层、InxGa1-xN/AlyGa1-yN多量子阱有源层、p-Aly2Inx2Ga1-x2-y2N电子阻挡层、高温p型GaN层和p型InGaN接触层,其中,n-Inx1Ga1-x1N/Aly1Ga1-y1N超晶格应力释放层的周期数为10至20,随着超晶格周期数的增加,n-Inx1Ga1-x1N/Aly1Ga1-y1N超晶格应力释放层中势阱Inx1Ga1-x1N层的厚度阶梯式变大,势垒Aly1Ga1-y1N层厚度保持固定数值不变,InxGa1-xN/AlyGa1-yN多量子阱有源层的周期数为5-10,n-Inx1Ga1-x1N/Aly1Ga1-y1N超晶格应力释放层和InxGa1-xN/AlyGa1-yN多量子阱有源层中0.01≤x1≤x≤0.1,0.01≤y1≤y≤0.1;p-Aly2Inx2Ga1-x2-y2N电子阻挡层和InxGa1-xN/AlyGa1-yN多量子阱有源层中0.01≤x2≤x≤0.1;0.01≤y1≤y≤0.1。

2.如权利要求1所述的高亮度近紫外发光二极管,其特征在于,势阱Inx1Ga1-x1N层的厚度为从1nm阶梯式变大到5.5nm,势垒Aly1Ga1-y1N层的厚度范围为2.5-3nm。

3.如权利要求1所述的高亮度近紫外发光二极管,其特征在于,n型GaN层厚度范围为2-4微米,掺杂Si,掺杂浓度为1018-1019cm-3

4.如权利要求1所述的高亮度近紫外发光二极管,其特征在于,n-Inx1Ga1-x1N/Aly1Ga1-y1N超晶格应力释放层掺杂Si,掺杂浓度大于1019cm-3

5.如权利要求1所述的高亮度近紫外发光二极管,其特征在于,InxGa1-xN/AlyGa1-yN多量子阱有源层中InxGa1-xN量子阱层的厚度范围为2-3nm;AlyGa1-yNl垒层的厚度范围为10-20nm。

6.如权利要求1所述的发光二极管,其特征在于,p-Aly2Inx2Ga1-x2-y2N电子阻挡层厚度范围为20nm-40nm,掺杂Mg,掺杂浓度为1017-1018cm-3

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