[发明专利]一种硬盘异常掉电测试系统

说明书

本发明公开了提供了一种硬盘异常掉电测试系统，包括多台测试主机，PDU、测试服务器和待安装到待测试的系统软件，所述测试主机与测试服务器相连接，所述PDU与测试服务器相连接，测试主机通过PDU供电，所述测试主机上设有硬盘连接端子，所述测试服务器上设有监视模块和控制模块，所述监视模块实现对测试主机运行状态记录，所述控制模块实现对PDU的控制，实现控制测试主机的通断电时间。通过将被测硬盘放置到测试主机，在服务器上运行测试程序，可同时测试多块固态硬盘，并且测试次数可以进行编程调整，可以满足各种强度的掉电测试，提高了测试效率和测试效果。

技术领域

本发明涉及硬盘测试领域，特别涉及一种硬盘异常掉电的测试系统。

背景技术

硬盘在设计时要考虑硬盘的性能和擦除损耗等方面，会采用写缓冲区，以减少对nand flash或磁道的操作。在实际用户使用过程中，难以避免存在在对硬盘进行读写过程中非安全异常掉电操作。当发生异常掉电时，缓冲区中的数据可能并没有真正写入到nandflash或磁道中，异常掉电会造成硬盘中数据丢失，影响用户正常使用。

因此，硬盘对于异常掉电操作时的数据安全指标是硬盘的重要测试评估指标，也是必测项。现在技术对硬盘在使用过程中进行异常掉电测试基本上为手动操作，具体测试方法有如下两种：

方法1：

步骤a:将被测硬盘安装到测试主机；

步骤b:在被测硬盘上安装操作系统和主板驱动；

步骤c:在被测硬盘上安装对硬盘大量读写操作的读写测试软件，如BurnIn Test；

步骤d:运行安装的读写测试软件对固态硬盘进行读写测试；

步骤e:手动将测试主机断电操作；

步骤f:等1分钟左右，对测试主机重新上电，并开机；

重复步骤d、步骤e和步骤f。人工观察测试主机在开机过程中是否有蓝屏或死机等异常现象，如存在则测试不通过。

方法1的缺陷是：整个测试过程都需要人为参与，浪费人力资源；且由于在测试过程中需要手动插拔测试主机电源，测试次数会有很大限制，导致对固态硬盘该方面的测试强度不足。

方法2：

在方法1的基础上对测试主机的上电和掉电操作进行集成控制，通过硬件连接可以控制多个测试主机同时测试，但是这种方式可编程能力弱。还是需要通过人工观察测试主机在开机过程中是否有蓝屏或死机等异常现象，如存在则测试不通过。方法2存在的缺陷是：整个测试过程都需要人为参与，浪费人力资源。虽然可以同时测试多个平台，但是由于对测试主机的上下电操作为集成控制，如果有一台测试主机发生错误，就会导致整个测试停滞。测试间隔时间固定，不能改变可，编程能力差。

发明内容

针对以上缺陷，本发明目的在于如何提升硬盘异常掉电的测试效率，同时提升测试效果。