[发明专利]一种扇出晶圆级封装方法有效

专利信息
申请号: 201410818160.7 申请日: 2014-12-24
公开(公告)号: CN104465418B 公开(公告)日: 2017-12-19
发明(设计)人: 石磊 申请(专利权)人: 通富微电子股份有限公司
主分类号: H01L21/56 分类号: H01L21/56;H01L21/60
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙)44280 代理人: 何青瓦
地址: 226004 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 一种 扇出晶圆级 封装 方法
【权利要求书】:

1.一种扇出晶圆级封装方法,包括以下工艺步骤:

提供载板;

在所述载板上贴可剥离保护膜,并在所述可剥离保护膜上形成图形开口;

在所述图形开口中形成金属层,所述金属层为一层以上;

去除所述载板;

去除所述载板后,将芯片与所述金属层连接;

将所述芯片和所述金属层连接之后,进行塑封和再布线;

其中,所述可剥离保护膜的非图形开口区域在所述封装方法过程中保留。

2.如权利要求1所述的扇出晶圆级封装方法,其特征在于:所述金属层为两层,其中第一金属层与第二金属层为锡、银、铜、镍、钯、金中的一种;第一金属层为靠近载板的金属层,第二金属层位于第一金属层之上。

3.如权利要求2所述的扇出晶圆级封装方法,其特征在于:所述第一金属层和第二金属层为不同金属材料。

4.如权利要求3所述的扇出晶圆级封装方法,其特征在于:所述再布线的步骤包括:在所述第二金属层上设置介质保护层;所述介质保护层不完全覆盖第二金属层;在介质保护层未覆盖的第二金属层之上形成再布线层,所述再布线层至少为一层。

5.如权利要求4所述的扇出晶圆级封装方法,其特征在于:再布线之后,在所述再布线层上植球或者涂覆绝缘层。

6.如权利要求4所述的扇出晶圆级封装方法,其特征在于:将芯片与所述金属层连接的方式为正装或倒装。

7.如权利要求4所述的扇出晶圆级封装方法,其特征在于,所述载板材料为玻璃、氧化铝、单晶硅、氮化铝、氧化铍、碳化硅、蓝宝石中的一种。

8.如权利要求4所述的扇出晶圆级封装方法,其特征在于:所述可剥离保护膜为UV膜、PET膜、PE膜、OPP膜、聚乙烯醇膜中的一种;所述塑封材料为硅树脂、环氧树脂、聚酰亚胺、酚醛树脂、聚氨酯、丙烯酸树脂中的一种;所述的介质保护层为油墨、SiO2薄膜、UV膜、PET膜、聚酯膜、PP膜、PE膜中的一种。

9.如权利要求4所述的扇出晶圆级封装方法,其特征在于:所述芯片安装为正装或倒装;在芯片安装步骤中,通过CCD影像对位装置检测芯片的偏移情况,通过金属针管吸取多余的阻焊剂;通过芯片卡爪纠正芯片的偏移。

10.如权利要求9所述的扇出晶圆级封装方法,其特征在于:所述芯片卡爪具有四个方向爪指,根据CCD影像对位装置的监控结果对芯片进行微移,使其位于准确的位置。

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