[发明专利]触摸检测装置和半导体装置

权利要求书

1.一种触摸检测装置，具备：

触摸面板，呈矩阵状地配置多个Y电极和X电极；

触摸面板控制器，基于相应于所述触摸面板的所述Y电极和所述X电极的交点电容而呈现于所述X电极的信号来生成相应于所述Y电极和所述X电极的每个交点的电容分布的检测数据；以及

处理器，进行使用了从所述触摸面板控制器转送的所述检测数据的数据处理，

其特征在于，所述触摸面板控制器，具备：

多个检测电路，与所述多个X电极对应；

校准电路，对各个所述检测电路的输入信号或输出信号实施偏移调整；以及

存储装置，存储规定所述校准电路的偏移调整工作的第一参数数据和用于对所述第一参数数据进行必要的补正的第二参数数据，

所述触摸面板控制器具有模式寄存器，其以能切换基于补正前的所述第一参数数据使所述校准电路工作的第一模式和基于用所述第二参数数据补正所述第一参数数据而得到的第三参数数据使所述校准电路工作的第二模式的方式进行指定。

2.根据权利要求1所述的触摸检测装置，其特征在于，

所述第一参数数据是所述Y电极和所述X电极的每个交点的数据，

所述第二参数数据是所述Y电极和所述X电极的每个交点的数据。

3.根据权利要求1所述的触摸检测装置，其特征在于，

所述第一参数数据是所述Y电极和所述X电极的每个交点的数据，

所述第二参数数据是对所述Y电极和所述X电极的多个交点的补正进行代表而使用的代表数据。

4.根据权利要求2所述的触摸检测装置，其特征在于，

所述存储装置由存储第一参数数据的第一存储器和存储所述第二参数数据的第二存储器构成，

在所述第二存储器中存储从所述处理器提供的所述第二参数数据。

5.根据权利要求3所述的触摸检测装置，其特征在于，

所述存储装置由存储第一参数数据的第一存储器和存储作为所述第二参数数据的所述代表数据的参数寄存器构成，

在所述参数寄存器中存储从所述处理器提供的所述代表数据。

6.根据权利要求1所述的触摸检测装置，其特征在于，

所述触摸面板控制器具有对所述多个Y电极按电极排列顺序供给脉冲信号而进行驱动的驱动电路，

所述检测电路以驱动的Y电极为单位检测该Y电极与交叉的所述X电极的交点电容的电容值，

所述校准电路在所述脉冲信号被施加的所述Y电极的每次切换时，输入补正前或补正后的对应的所述第一参数数据。

7.根据权利要求1所述的触摸检测装置，其特征在于，

所述第二参数数据是对所述第一参数数据相加或相减的数据，通过对所述第一参数数据加上或减去所述第二参数数据来进行必要的补正。

8.根据权利要求7所述的触摸检测装置，其特征在于，

所述校准电路是利用补正前或补正后的所述第一参数数据来调整耦合于所述检测电路的输入的恒定电流源的电流量的电路。

9.根据权利要求7所述的触摸检测装置，其特征在于，

所述校准电路是利用补正前或补正后的所述第一参数数据来调整经由耦合于所述检测电路的输入的电容元件而施加于该输入的电荷量的电路。

10.根据权利要求7所述的触摸检测装置，其特征在于，

所述校准电路是利用补正前或补正后的所述第一参数数据来调整经由耦合于所述检测电路的输出的加减法电路而施加的电压的加减量的电路。

11.根据权利要求7所述的触摸检测装置，其特征在于，

所述处理器进行对所述模式寄存器的设定。