[发明专利]一种触控传感器的电容检测装置及其检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种用于触控传感器的电容检测装置及其检测方法。

背景技术

触控传感器(Touch Sensor)一般都是指镀上ITO导电层的触控导电玻璃(ITO Glass)，或是触控导电薄膜(ITO Film)。触控传感器(Touch Sensor)常见的材料包括玻璃以及塑料薄膜PET，触控技术中，包括电阻式以及电容式都是透过ITO Glass或是ITO Film等导电介质进行触控感应，其中触控导电玻璃(ITO Glass)，或是触控导电薄膜(ITO Film)都称为TIO图形，因此被称为触控传感器(Touch Sensor)。

现有触控传感器(Touch Sensor)的检测是在全部制程结束后给IC通电，根据输出的波形判断缺陷的位置。

如图1所示，触控传感器(Touch Sensor)包括行ITO图形11、列TIO图形12、与行ITO图形11连接的行IC 20、以及与列ITO图形12连接的列IC 30，通过对行IC 10和列IC 20通电，检测触控传感器中行ITO图形11和列ITO图形12的波形断缺陷的位置，但此方法不利于及早发现问题，而且当触控传感器的图案为单层ITO结构时，无法准确定位缺陷出现的具体位置。

发明内容

本发明提的目的检测整块触控传感器电容的均匀性的检测装置和检测方法。

本发明提供一种触控传感器的电容检测装置，包括触控传感器，触控传感器具有行ITO图形和列ITO图形、与行ITO图形连接的行IC、以及与列ITO图形连接的列ITO，本检测装置还包括位于ITO图形上方的液晶显示面板，该液晶显示面板包括上基板、位于上基板底部的ITO电极、下基板、以及夹设上基板和下基板之间的液晶，一第一电源的一端连接于ITO电极、第一电源的另一端连接于行IC；一第二电源的一端连接于ITO电极，第二电源的另一端连接于列IC。

本发明又提供一种触控传感器的电容检测装置，包括触控传感器，触控传感器具有单层ITO图形、以及与ITO图形连接的IC，本检测装置还包括位于ITO图形上方的液晶显示面板，该液晶显示面板包括上基板、位于上基板底部的ITO电极、下基板、以及夹设上基板和下基板之间的液晶，一电源的一端连接于ITO电极、电源的另一端连接于IC。

本发明又提供一种检测方法，包括如下步骤：

给ITO电极和行IC通电，检测行ITO图形各个区域电容值的变化，当行ITO图形上某处有缺陷，液晶显示面板显示对应缺陷的行ITO图形的光学异常；

给ITO电极和列IC通电，检测列ITO图形各个区域电容值的变化，当列ITO图形上某处有缺陷，液晶显示面板显示对应缺陷的列ITO图形的光学异常；

同时给行IC和列IC通电，当行IC和列IC给予不同的电压时，当行ITO图形和列ITO图形之间有异物，造成行ITO图形和列ITO图形串联时，导致缺陷处的一整行或列电压因串联发生变化，液晶显示面板显示对应缺陷的行ITO和列ITO图形的光学异常。

本发明又提供一种检测方法，包括如下步骤：

给ITO电极和IC通电，检测ITO图形各个区域电容值的变化，当ITO图形上某处有缺陷，液晶显示面板显示对应缺陷的ITO图形的光学异常。

本发明不仅可以在每道ITO制程结束后就可提早检测出ITO图形缺陷的具体位置，也可以直接检测出每块区域电容值的变化，从而可以检测整块触控传感器电容的均匀性。

附图说明

图1所示为现有触控传感器的结构示意图；

图2为本发明触控传感器的电容检测装置的结构示意图；

图3为本发明电容检测装置的行方向通电的结构示意图；

图4为本发明电容检测装置的列方向通电的结构示意图；

图5为本发明电容检测装置的行和列方向通电的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例，进一步阐明本发明，应理解这些实施例仅用于说明本发明而不用于限制本发明的范围，在阅读了本发明之后，本领域技术人员对本发明的各种等价形式的修改均落于本申请所附权利要求所限定的范围。