[发明专利]一种指针用垂直高度检具

说明书

技术领域

本发明涉及一种用于检测指针的工具。

背景技术

现有技术中的指针，都是通过安装柱安装在仪表盘上，则对针体高度由一定的限制，如果过低则会影响在仪表盘上转动，如果过高，则会产生不稳定，或者受限于仪表盘空间，所以需要一种能专门用于检测指针高度的检具。

发明内容

为了克服现有技术的上述不足，本发明提供一种专门用于检测指针垂直高度的检具。

本发明解决其技术问题的技术方案是：

一种指针用垂直高度检具，包括主体块，所述的主体块的一端设置有插孔，所述的插孔内设置有能容置指针插入的插针，所述的指针插入在所述的插针上并可在所述的主体块上表面上旋转，所述的主体块的另一端设置有可分别上下移动的第一检测块、第二检测块，所述的第一检测块、第二检测块分别通过锁紧螺栓固定在所述的主体块的另一端，且所述的第一检测块、第二检测块上分别开设有供锁紧螺栓上下移动的纵向方向的长条形孔，所述的第一检测块、第二检测块到插针之间的距离小于指针安装柱中心到指针尖的距离。

作为优选，插孔内壁还设置有内壁环，所述的插针设置在内壁环的中心位置，所述内壁环的上表面水平设置且接触指针下表面。

作为优选，主体块的另一端设置有凹槽，所述的第一检测块、第二检测块并列设置在所述的凹槽内。

检测时，将指针插设在插孔的插针内，指针的下表面接触内壁环的上表面上，则指针可在内壁环的上表面上进行旋转。然后根据不同指标，调节第一检测块、第二检测块的高度，将第一检测块调节为最低高度要求，将第二检测块调节为最高高度要求。旋转指针，如果指针不能越过第一检测块，则指针的针体高度不符合要求，即高度过低，如果指针能越过第二检测块，则指针的针体高度仍旧不符合要求，高度过高。指针必须能越过第一检测块同时不能越过第二检测块，才符合垂直高度要求。

本发明的有益效果在于：本发明设置了一种专门用于检测指针针体垂直高度的检具，检测方便。

附图说明

图1是本发明的结构示意图。

图2是本发明爆炸结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施方式对本发明作进一步详细说明。

如图1、2所示，一种指针用垂直高度检具，包括主体块2，主体块的一端设置有插孔10，所述的插孔内设置有能容置指针插入的插针8，指针插入在所述的插针上并可在所述的主体块上表面上旋转，主体块的另一端设置有可分别上下移动的第一检测块3、第二检测块4，所述的第一检测块、第二检测块分别通过锁紧螺栓5固定在所述的主体块的另一端，且所述的第一检测块、第二检测块上分别开设有供锁紧螺栓上下移动的纵向方向的长条形孔6，所述的第一检测块、第二检测块到插针之间的距离小于指针安装柱中心到指针尖的距离。插孔内壁还设置有内壁环9，所述的插针设置在内壁环的中心位置，所述内壁环的上表面水平设置且接触指针下表面。主体块的另一端设置有凹槽7，所述的第一检测块、第二检测块并列设置在所述的凹槽内。

检测时，将指针插设在插孔的插针内，指针1的下表面接触内壁环9的上表面上，则指针可在内壁环的上表面上进行旋转。然后根据不同指标，调节第一检测块3、第二检测块4的高度，将第一检测块调节为最低高度要求，将第二检测块调节为最高高度要求。旋转指针，如果指针不能越过第一检测块，则指针的针体高度不符合要求，如果指针能越过第二检测块，则指针的针体高度仍旧不符合要求。指针必须能越过第一检测块并不能越过第二检测块，才符合垂直高度要求。

本发明设置了一种专门用于检测指针针体垂直高度的检具，检测方便。