[发明专利]终端性能测试方法及测试系统

说明书

技术领域

本发明涉及通信领域的终端性能测试技术，尤其涉及一种终端性能测试方法测及试系统。

背景技术

终端性能测试是检测终端的吞吐量等性能参数的测试，依据性能测试结果确定出该终端的优劣，进而确定该终端是否为合格终端，可流入消费者市场供用户使用。

具体如，支撑多输入多输出(MultipleInputMultipleOutput，MIMO)的长期演进(LongTermEvolution，LTE)终端，通常采用有源测试OTA(OverTheAir)测试来测试终端的性能参数，具体如吞吐量；但是现有OTA测试中采用RMC(ReferenceModulationChannel)方式模拟基站下行信号进行测试。但是RMC方式进行OTA测试时，固定了下行信道参数(如调制参数和/或编码参数)，导致无法模拟出真实应用中动态变化无线环境，从而导致测试结果精确度低地问题。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例期望提供一种终端性能测试方法及测试系统，能够提高终端性能测试的精确性。

为达到上述目的，本发明的技术方案是这样实现的：

本发明实施例第一方面提供一种终端性能参数测试方法，所述方法包括：

向位于测量室内的被测终端发送第一测试信号；

接收被测终端基于所述第一测试信号返回的反馈信号；

依据所述第一测试信号和所述反馈信号，统计所述下行信号的误码率；

依据所述误码率，采用自适应编码调制方式AMC确定编码调制参数；

依据所述编码调制参数向所述被测终端发送第二测试信号；

其中，所述误码率为确定所述被被测终端性能参数的依据之一。

优选地，

所述第一测试信号和所述第二测试信号均为由测试基站发送的测试信号；

采用测试基站发送所述测试信号。

优选地，

所述采用测试基站发送所述测试信号，包括：

采用至少两个测试基站依次向位于测试室内的被测终端发送测试信号；

其中，第i个测试基站与第i+1个测试基站的属性参数至少部分不同；

所述i为不小于1的整数。

优选地，

所述方法还包括：

采用干扰基站向位于所述测量室内的被测终端发送干扰信号。

优选地，

所述第一测试信号和所述第二测试信号均为由测试基站发送的测试信号

所述方法还包括：

在发送所述测试信号之前，通过信道仿真器对所述测试信号进行下行衰落处理；

在统计所述误码率之前，通过信道仿真器对所述反馈信号进行上行衰落处理。

本发明实施例第二方面提供一种终端性能参数测试系统，所述测试系统包括测试装置，所述测试装置包括：

发送单元，用于向位于测量室内的被测终端发送第一测试信号；

接收单元，用于接收被测终端基于所述第一测试信号返回的反馈信号；

统计单元，用于依据所述第一测试信号和所述反馈信号，统计所述下行信号的误码率；

确定单元，用于依据所述误码率，采用自适应编码调制方式AMC确定编码调制参数；

所述发送单元，还用于依据所述编码调制参数向所述被测终端发送第二测试信号；

其中，所述误码率为确定所述被被测终端性能参数的依据之一。

优选地，

所述装置为测试基站。

优选地，

所述测试系统包括至少两个所述测试基站；

其中，第i个测试基站与第i+1个测试基站的属性参数至少部分不同；

所述i为不小于1的整数。

优选地，

所述系统还包括：

干扰基站，用于向位于所述测量室内的被测终端发送干扰信号。

优选地，

所述第M测试基站为当所述第i个测试基站向所述被测终端发送测试信号时，发送所述干扰信号的所述干扰基站；

其中，所述M为不等于i的正整数。

优选地，

所述系统还包括信道仿真器；

所述信道仿真器，用于在向所述被测终端发送所述测试信号之前，对所述测试信号进行下行衰落处理；及在统计所述误码率之前，通过信道仿真器对所述反馈信号进行上行衰落处理。

优选地，

所述系统还包括：

基站切换单元，用于确定测试基站，并将所述测试基站发送的测试信号向所述信道仿真器发送及从所述信道仿真器接收所述反馈信号传输给所述测试基站。