[发明专利]一种带通滤波器及高阶带通滤波器及性能分析方法

权利要求书

1.一种带通滤波器，包括谐振器，以及设置在所述谐振器上的输入馈线和输出馈线，其特征在于，所述谐振器包括开设在介质板上的连接槽线，以及沿所述连接槽线两侧的底部分别向下延伸、并向所述带通滤波器的中心线成螺旋状弯折的第一折叠槽线和第二折叠槽线；所述第一折叠槽线和所述第二折叠槽线之间通过介质相隔；并且所述第一折叠槽线之间的介质形成第一折叠部，所述第二折叠槽线之间的介质形成第二折叠部，所述第一折叠部和所述第二折叠部相互连通；所述输入馈线覆盖部分的所述第一折叠槽线和部分的所述第一折叠部，输出馈线覆盖部分的所述第二折叠槽线和部分的所述第二折叠部；

其中，所述第一折叠槽线、连接槽线、第二折叠槽线构成第一谐振结构，所述第一折叠部和第二折叠部构成第二谐振结构。

2.根据权利要求1所述的带通滤波器，其特征在于，所述带通滤波器以其中心线成镜像对称结构。

3.根据权利要求1所述的带通滤波器，其特征在于，所述第一折叠槽线和所述第二折叠槽线向所述带通滤波器的中心线成多次同向弯折。

4.根据权利要求1所述的带通滤波器，其特征在于，所述输入馈线和输出馈线采用微带馈线。

5.一种高阶带通滤波器，其特征在于，采用至少两个如权利要求1-4中任一项所述的带通滤波器级联构成。

6.一种带通滤波器的性能分析方法，其特征在于，用于权利要求1-4中任一项所述的带通滤波器，包括：通过以下策略，调整所述带通滤波器的性能：

1)、改变所述带通滤波器与输入馈线/输出馈线的重叠距离，引起所述带通滤波器的第一谐振结构和第二谐振结构的外部品质因子的变化；

2)、改变所述带通滤波器的连接槽线的顶面与底面之间的宽度，引起所述第一谐振结构和第二谐振结构的耦合系数的变化；

3）、改变输入馈线和输出馈线之间的距离，调节传输零点与带通中心频率远近，以及引起上阻带带外抑制度的变化。

7.根据权利要求6所述的性能分析方法，其特征在于，所述改变所述带通滤波器与输入馈线/输出馈线的重叠距离，引起所述带通滤波器的第一谐振结构和第二谐振结构的外部品质因子的变化，具体包括：

缩小所述带通滤波器与输入馈线/输出馈线的重叠距离，使所述带通滤波器的第一谐振结构和第二谐振结构的外部品质因子增大。

8.根据权利要求6所述的性能分析方法，其特征在于，所述改变所述带通滤波器的连接槽线的顶面与底面之间的宽度，引起所述第一谐振结构和第二谐振结构的耦合系数的变化，具体包括：

增大所述带通滤波器的连接槽线的顶面与底面之间的宽度，使所述第一谐振结构和第二谐振结构的耦合系数减小。

9.根据权利要求6所述的性能分析方法，其特征在于，所述改变输入馈线和输出馈线之间的距离，改变传输零点与带通中心频率远近，以及引起上阻带带外抑制度的变化，具体包括：

缩小所述输入馈线和输出馈线之间的距离，使所述传输零点向带通中心频率靠近，并使上阻带带外抑制度降低。