[发明专利]可校正光源的检测系统及其光源校正方法

说明书

技术领域

本发明是有关于一种检测系统的光源校正方法。

背景技术

检测系统是以光源照射待测物，并拍摄待测物的影像而检测待测物的质量。目前大多藉由镜头来拍摄待测物的影像。然而因光线于通过镜头后的亮度会随着越靠近镜头的视野边缘而减弱，因此成像于视野边缘的影像细节便难以进行后序分析。虽然此影像可透过软件的暗角校正功能以补偿边缘的亮度，然而如此一来也同时增加了边缘影像的噪声，其信噪比(S/Nratio)实际上并无法改善。随着科技的进步与产品的更迭，检测系统的照度与稳定度的要求随之增加。因此如何设计检测系统以改善上述的缺点为业界需解决的问题之一。

发明内容

本发明的一态样提供一种检测系统的光源校正方法。检测系统包含光源、影像拍摄装置以及控制器。光源具有照射区域，影像拍摄装置具有拍摄视野。光源校正方法包含调整拍摄视野于照射区域之内。轮流开启光源的多个发光单元。影像拍摄装置于每一发光单元开启时拍摄一校正影像，以取得多个校正影像。根据校正影像的亮度分布，控制器分别调整发光单元的发光亮度，使得拍摄视野内的检测影像具有特定的亮度分布。

本发明的另一态样提供一种可校正光源的检测系统，包含光源、影像拍摄装置与控制器。光源包含多个发光单元。光源具有照射区域。影像拍摄装置具有拍摄视野。拍摄视野小于照射区域。控制器电性连接影像拍摄装置与光源。当检测系统校正光源时，控制器控制影像拍摄装置于每一发光单元开启时拍摄一校正影像，以取得多个校正影像，并根据校正影像的亮度分布，分别调整发光单元的发光亮度，使得拍摄视野内的检测影像具有特定的亮度分布。

上述实施方式的检测系统与其光源校正方法能够分别控制发光单元的亮度，配合影像拍摄装置的拍摄视野，使得拍摄视野内的检测影像具有特定的亮度分布。

附图说明

图1为本发明一实施方式的可校正光源的检测系统的立体示意图。

图2为应用图1的检测系统的光源校正方法的一实施方式的流程图。

图3A为本发明一实施例的照射区域于校正前、后的亮度分布图。

图3B为本发明一实施例的拍摄视野于校正前、后的归一化亮度分布图。

图4为应用图1的检测系统的光源校正方法的另一实施方式的流程图。

图5为应用图1的检测系统的光源校正方法的又一实施方式的流程图。

符号说明：

110：光源

112：发光单元

115：照射区域

120：影像拍摄装置

125：拍摄视野

130：控制器

140：量测平台

910、920、930、960、970、980：线段

C1、C2：中心

CI：校正影像

DI：检测影像

S10、S12、S14、S16、S20、S22、S23、S24、S30、S40、S42、S44：步骤

具体实施方式

以下将以图式公开本发明的多个实施方式，为明确说明起见，许多实务上的细节将在以下叙述中一并说明。然而，应了解到，这些实务上的细节不应用以限制本发明。也就是说，在本发明部分实施方式中，这些实务上的细节是非必要的。此外，为简化图式起见，一些习知惯用的结构与组件在图式中将以简单示意的方式绘示之。

图1为本发明一实施方式的可校正光源的检测系统的立体示意图。如图所示，可校正光源的检测系统包含光源110、影像拍摄装置120与控制器130。光源110包含多个发光单元112。光源110具有照射区域115，其中照射区域115的形心定义为照射区域115的中心C1。影像拍摄装置120具有拍摄视野125，其中拍摄视野125的形心定义为拍摄视野125的中心C2。拍摄视野125小于照射区域115。控制器130电性连接影像拍摄装置120与光源110。当检测系统校正光源110时，控制器130控制影像拍摄装置120于每一发光单元112开启时拍摄一校正影像CI，以取得多个校正影像CI，并根据校正影像CI的亮度分布，分别调整发光单元112的发光亮度，使得拍摄视野125内的检测影像DI具有特定的亮度分布(例如均匀的亮度分布)。另外，为了清楚起见，图1的发光单元112以实线表示。其中检测影像DI是指检测系统于检测样品时，影像拍摄装置120所拍摄的影像。