[发明专利]一种晶圆翘曲处理的装置及方法有效

专利信息
申请号: 201410763661.X 申请日: 2014-12-12
公开(公告)号: CN104538331B 公开(公告)日: 2018-06-05
发明(设计)人: 丁万春 申请(专利权)人: 通富微电子股份有限公司
主分类号: H01L21/67 分类号: H01L21/67;H01L21/02
代理公司: 深圳市威世博知识产权代理事务所(普通合伙) 44280 代理人: 何青瓦
地址: 226004 *** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 承载台 晶圆 翘曲 种晶 气体抽取装置 密封腔 气体输入装置 氮气 处理装置 顶部设置 惰性气体 晶圆翘曲 密封环境 施加压力 移动手臂 上表面 对扣 吸附 连通 密封 抽取 承载
【权利要求书】:

1.一种晶圆翘曲处理的装置,包括承载台(1),发生翘曲的晶圆(2)位于承载台(1)之上;其特征在于,还包括:位于承载台(1)上的密封装置(3),所述密封装置(3)与承载台(1)上下对扣密封形成密封腔(4);所述密封装置(3)上安装有气体输入装置(6),所述气体输入装置(6)下部设置有气体喷嘴(61);气体通过所述气体喷嘴(61)喷出,进而对所述晶圆施加朝向所述承载台方向的压力;所述密封装置(3)内还设有气体引导板(8),所述气体引导板(8)与所述密封装置(3)的连接处低于所述气体输入装置(6)的气体喷嘴(61),所述引导板(8)从密封装置周沿往密封腔(4)内延伸,呈倒喇叭状或者呈倒圆锥筒状,其下部的开口位于圆片(2)的中央上方。

2.如权利要求1所述的晶圆翘曲处理的装置,其特征在于:密封腔(4)内充有惰性气体或者氮气。

3.如权利要求1或2所述的晶圆翘曲处理的装置,其特征在于:所述密封装置(3)由金属材料制成。

4.如权利要求3所述的晶圆翘曲处理的装置,其特征在于:密封装置(3)为与承载台(1)相配套的形状,其内尺寸大于晶圆(2)的直径。

5.如权利要求4所述的晶圆翘曲处理的装置,其特征在于:密封装置(3)与承载台(1)的对扣处设置有密封组件(5)。

6.如权利要求5所述的晶圆翘曲处理的装置,其特征在于:所述密封组件(5)为O形橡胶圈。

7.如权利要求6所述的晶圆翘曲处理的装置,其特征在于:所述密封组件(5)固定设置在承载台(1)之上,密封组件(5)上部开设有与密封装置(3)对应的凹槽(51)。

8.如权利要求5所述的晶圆翘曲处理的装置,其特征在于:所述密封组件(5)固定设置在密封装置(3)的下沿,密封组件(5)下部开设有与密封装置(3)对应的凹槽(52),承载台(1)上设有与凹槽(52)相对应的卡槽(11)。

9.如权利要求1-2、4-8任意一项所述的晶圆翘曲处理的装置,其特征在于:所述如权利要求1所述的晶圆翘曲处理的装置,其特征在于:所述气体输入装置(6)穿过密封装置(3)的顶部往下延伸到密封腔(4)内。

10.如权利要求1所述的晶圆翘曲处理的装置,其特征在于:所述气体输入装置(6)设置在密封装置(3)的侧壁顶部。

11.如权利要求10所述的晶圆翘曲处理的装置,其特征在于:所述气体输入装置(6)至少为一个,沿密封装置(3)的侧壁顶部均匀分布。

12.如权利要求1所述的晶圆翘曲处理的装置,其特征在于:引导板(8)将密封腔(4)隔离两个腔。

13.如权利要求1-2、4-8、10-12任意一项所述的晶圆翘曲处理的装置,其特征在于:所述承载台(1)下部设有气体抽取装置(9),气体抽取装置(9)与承载台(1)连通。

14.如权利要求1所述的晶圆翘曲处理的装置,其特征在于:所述密封装置(3)顶部设置有移动手臂(11)。

15.一种晶圆翘曲处理的装置,包括承载台(1),发生翘曲的晶圆(2)位于承载台(1)之上;其特征在于,所述承载台(1)上设置有侧壁(12),侧壁(12)上设有与之配套的上腔盖板(13),所述上腔盖板(13)上有气体输入装置(6),所述气体输入装置(6)下部设置有气体喷嘴(61);气体通过所述气体喷嘴(6)喷出,进而对所述晶圆施加朝向所述承载台方向的压力;所述侧壁(12)上设有气体引导板,气体引导板与侧壁的连接处低于气体输入装置6的气体喷嘴;引导板从密封装置周沿往密封腔内延伸,呈倒喇叭状或者呈倒圆锥筒状,其下部的开口位于圆片(2)的中央上方。

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