[发明专利]金属间合物填充材料的转接板的制造工艺在审
| 申请号: | 201410753225.4 | 申请日: | 2014-12-10 |
| 公开(公告)号: | CN104465504A | 公开(公告)日: | 2015-03-25 |
| 发明(设计)人: | 何洪文;孙鹏;曹立强 | 申请(专利权)人: | 华进半导体封装先导技术研发中心有限公司 |
| 主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768 |
| 代理公司: | 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 | 代理人: | 曹祖良;刘海 |
| 地址: | 214135 江苏省无锡市新区*** | 国省代码: | 江苏;32 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 金属 间合物 填充 材料 转接 制造 工艺 | ||
1.一种金属间合物填充材料的转接板的制造工艺,其特征是,包括以下步骤:
第一步:在硅转接板(1)上刻蚀盲孔(2);
第二步:在硅转接板(1)的表面和盲孔(2)的内表面沉积绝缘层(8)和铜层(9),绝缘层(8)的厚度为10 nm~10μm,铜层(9)的厚度为10 nm~10μm;
第三步:将Cu颗粒掺杂的液态钎料填充到盲孔(2)中, Cu颗粒的掺杂量为50%~90%,Cu颗粒的粒径为1微米~50微米;
第四步:回流后形成金属间化合物(5),回流过程中:升温至220~300℃,并在220℃以上停留30秒后,再降温至常温;
第五步,将硅转接板(1)表面的铜层(8)去除,保留绝缘层(8);
第六步:在硅转接板(1)的正面制作RDL层(3)和微凸点(4);
第七步:在硅转接板(1)的背面进行减薄工艺,露出金属间化合物(5)的底部;
第八步:在硅转接板(1)的背面制作背面RDL层(6)和背面微凸点(7),从而完成转接板的制作。
2.如权利要求1所述的金属间合物填充材料的转接板的制造工艺,其特征是:所述绝缘层(8)的材料为氧化硅、氮化硅、多晶硅、聚酰亚胺或特氟龙塑料。
3.如权利要求1所述的金属间合物填充材料的转接板的制造工艺,其特征是:所述液态钎料采用Sn、SnPb、SnAg、SnAgCu或SnCu。
4.如权利要求1所述的金属间合物填充材料的转接板的制造工艺,其特征是:所述RDL层(3)和背面RDL层(6)的材质为铜。
5.如权利要求1所述的金属间合物填充材料的转接板的制造工艺,其特征是:所述微凸点(4)的材质为Sn、SnAg、Cu+Sn或者Cu/SnAg。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于华进半导体封装先导技术研发中心有限公司,未经华进半导体封装先导技术研发中心有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410753225.4/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:半导体装置
- 下一篇:金属互连层的形成方法
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造





