[发明专利]一种三维电阻率成像系统的自动编码方法有效
| 申请号: | 201410747761.3 | 申请日: | 2014-12-09 |
| 公开(公告)号: | CN104360397A | 公开(公告)日: | 2015-02-18 |
| 发明(设计)人: | 张益胜;彭祥;张春凤 | 申请(专利权)人: | 重庆地质仪器厂 |
| 主分类号: | G01V3/00 | 分类号: | G01V3/00 |
| 代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 罗满 |
| 地址: | 400033*** | 国省代码: | 重庆;85 |
| 权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 一种 三维 电阻率 成像 系统 自动 编码 方法 | ||
技术领域
本发明涉及地址勘探技术领域,特别是涉及一种三维电阻率成像系统的自动编码方法。
背景技术
三维电阻率成像法是地质勘探中重要的技术。电阻率成像属于阵列置点勘探方法,其核心是在观测上采用阵列电极系统、数据处理上实施三维反演,由实测的电阻率得到真电阻率的分布图像。
现场工作中,根据三维电阻率成像系统的特点,在观测剖面上确定测点的位置,将所有电极一次布置完成,所有的电极通过多芯电缆连接到子站上。通过主机上的上位机和下位机与各个子站的通讯实现数据的传输。因此,需要对各个电极进行编码以实现数据的传输。
现有的编码方式为硬编码,由软件控制或硬件对目标体进行编码,即将所控制电极或子站给定物理地址。因此,该编码方式要求电极需要按照给定的物理地址的顺序进行布置,否则无法实现测量。
发明内容
本发明的目的是提供一种三维电阻率成像系统的自动编码方法,简化子站和电极的布置过程。
为解决上述技术问题,本发明提供一种三维电阻率成像系统的自动编码方法,包括:
根据测量需求对三维电阻率成像系统中的子站位置进行规划;
对三维电阻率成像系统中各子站的电极布置位置进行规划;
在所述布置位置上布置所述电极;
对所述子站进行编码,并记录所述子站的编码结果;
对所述电极进行编码,并记录所述电极的编码结果。
优选的,所述记录所述子站的编码结果具体包括:
将所述子站的编码结果发送至所述子站;
所述子站接收所述子站的编码结果;
当接收到所述子站发送的反馈信息后,确定所述子站的编码结果。
优选的,在所述子站接收所述子站的编码结果后还包括:
存储所述子站的编码结果。
优选的,所述记录所述电极的编码结果具体包括:
将所述电极的编码结果发送至所述电极;
所述电极接收所述电极的编码结果;
当接收到所述电极发送的反馈信息后,确定所述电极的编码结果。
优选的,在所述电极接收所述电极的编码结果后还包括:
存储所述电极的编码结果。
优选的,还包括:
根据测量需求,利用所述子站的编码结果和所述电极的编码结果生成控制指令;
所述控制指令具体包括:寻址信息和控制信息。
优选的,还包括:
向所述电极发送所述控制指令;
接收所述控制指令;
执行所述控制指令。
优选的,所述向所述电极发送所述控制指令具体包括:
依据所述子站和主机的串联结构,依次从靠近所述主机的子站开始向下一个子站传输所述控制指令。
优选的,所述传输所述控制指令具体包括:
判断所述控制指令包含的所述寻址信息是否与当前子站的编码结果相对应;
若所述寻址信息与当前子站的编码结果相对应,则利用所述寻址信息将所述控制指令发送至相应的电极,并停止传输所述控制指令;
若所述寻址信息与所述当前子站的编码结果不对应,则将所述控制指令传输至与其串联的下一个子站。
本发明所提供的三维电阻率成像系统的自动编码方法只需要根据测量需求,将各个三维电阻率成像系统中的子站位置进行规划,待子站位置规划完成后,再对电极的布置位置进行规划并布置电极。当子站和电极均布置好之后,主机对各个子站和电极进行编码,并记录子站的编码结果和电极的编码结果。由此可见,本方法无需根据特定的物理地址布置子站和电极,且当子站和电极布置好以后,主机才对各个子站的各个电极进行编码并记录,简化了子站和电极的安装过程,节约时间。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例,下面将对实施例中所需要使用的附图做简单的介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明提供的一种三维电阻率成像系统的自动编码方法的流程图;
图2为本发明提供的一种记录子站的编码结果的流程图;
图3为本发明提供的另一种记录子站的编码结果的流程图;
图4为本发明提供的一种记录电极的编码结果的流程图;
图5为本发明提供的另一种记录电极的编码结果的流程图;
图6为本发明提供的另一种三维电阻率成像系统的自动编码方法的流程图;
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于重庆地质仪器厂,未经重庆地质仪器厂许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410747761.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种光学膜层、发光器件及显示装置
- 下一篇:一种GPS卫星捕获判决的高效算法





