[发明专利]一种模块化AOI定位方法、系统及烧录IC设备

权利要求书

1.一种模块化AOI定位方法，用于对烧录IC设备进行IC定位，其特征在于，所述方法包括步骤：

A、加载烧录IC图片，并对所述烧录IC图片进行图像功能调整；

B、获取所述调整后的图像区块，判断所述调整后的图像区块是否为可用区域；

C、若所述调整后的图像区块为可用区域，则对所述可用区域进行CCD比对；

D、若所述CCD比对结果处于一预先设置的阀值范围内，则对所述可用区域进行图像校正，根据校正结果对烧录IC设备进行IC定位。

2.根据权利要求1所述的模块化AOI定位方法，其特征在于，所述步骤A中获加载所述烧录IC图片包括步骤：

开启四个线程，设置所述烧录IC图片的四个顶点为起始点，向图片中心加载图片数据。

3.根据权利要求1所述的模块化AOI定位方法，其特征在于，所述图像功能调整包括：调整图像亮度值、锐利值、膨胀值和腐蚀值。

4.根据权利要求1所述的模块化AOI定位方法，其特征在于，所述步骤C中CCD比对包括步骤：

C1、取出所述可用区域，根据标准点到线距离公式计算可用区域边缘，并通过所述可用区域边缘获取可用区域外框的所有点位；

C2、根据所述外框所有点位计算所述图像区块的中心位置；

C3、取出同测最远距离的两个点位，利用所述两个点位所在直线的斜率公式计算出偏移角度和X/Y偏移量。

5.根据权利要求1所述的模块化AOI定位方法，其特征在于，所述步骤D中图像校正具体包括步骤：

D1、预先设置一校正块，将所述校正块置于CCD下方，利用绘图手法划出相等于所述校正块长度值的直线；

D2、根据所述长度值计算出相对应的像素值，此数值对应关系记为长度-像素对应关系，根据所述长度-像素对应关系计算出像素值为1时所对应的长度值，此数值对应关系记为像素-长度对应关系；

D3、将所述像素-长度对应关系设定为校正标准，根据所述校正标准对所述可用区域的所有像素点进行图像校正。

6.一种如权利要求1所述的模块化AOI定位系统，其特征在于，所述定位系统包括：

加载调整图片模块，用于加载烧录IC图片，并对所述烧录IC图片进行图像功能调整；

可用区域判断模块，用于获取所述调整后的图像区块，判断所述调整后的图像区块是否为可用区域；

CCD比对模块，用于若所述调整后的图像区块为可用区域，则对所述可用区域进行CCD比对；

图像校正模块，用于若所述CCD比对结果处于一预先设置的阀值范围内，则对所述可用区域进行图像校正，根据校正结果对烧录IC设备进行IC定位；

所述加载所述烧录IC图片包括：开启四个线程，设置所述IC图片的四个顶点为起始点，向图片中心加载图片数据；

所述图像功能调整包括：调整图像亮度值、锐利值、膨胀值和腐蚀值。

7.根据权利要求6所述的模块化AOI定位系统，其特征在于，所述CCD比对模块还包括：

可用区域外框点位获取单元，用于取出所述可用区域，根据标准点到线距离公式计算可用区域边缘，并通过所述可用区域边缘获取可用区域外框的所有点位；

中心位置计算单元，用于根据所述外框所有点位计算所述图像区块的中心位置；

偏移值计算单元，用于取出同测最远距离的两个点位，利用所述两个点位所在直线的斜率公式计算出偏移角度和X/Y偏移量。

8.根据权利要求6所述的模块化AOI定位系统，其特征在于，所述图像校正模块还包括：

长度值获取单元，用于预先设置一校正块，将所述校正块置于CCD下方，利用绘图手法划出相等于所述校正块长度值的直线；

像素长度值对应单元，用于根据所述长度值计算出相对应的像素值，此数值对应关系记为长度-像素对应关系，根据所述长度-像素对应关系计算出像素值为1时所对应的长度值，此数值对应关系记为像素-长度对应关系；

校正标准设定单元，用于将所述像素-长度对应关系设定为校正标准，根据所述校正标准对所述可用区域的所有像素点进行图像校正。