[发明专利]一种支柱绝缘子污秽度识别方法

权利要求书

1.一种支柱绝缘子污秽度识别方法，其特征在于，包括如下步骤：

步骤一，周期性监测支柱绝缘子的泄漏电流幅值以及环境温度、湿度和降雨量，并存储；

步骤二，选取有效时间段的多个泄漏电流幅值数据和多个环境湿度数据，代入模型公式：通过模型公式拟合获得第一特征系数a和第二特征系数，其中，I_m为泄漏电流的幅值，R_H为环境湿度，第一特征参数a﹥0，第二特征系数b﹥0；

步骤三，将所述第二特征系数b，代入预先制定的等值附盐密度预测模型和污秽度预测模型，获得与所述第二特征系数b相对应的绝缘子表面的等值附盐密度和污秽度等级。

2.如权利要求1所述的一种支柱绝缘子污秽度识别方法，其特征在于，所述步骤一具体为：

通过支柱绝缘子污秽观测系统每隔第一时间周期监测记录一次所述支柱绝缘子的泄漏电流幅值；

每隔第一时间周期记录所述时间周期内的环境温度和环境湿度的平均值；

每隔第二时间周期记录所述时间周期内的雨量的累计值。

3.如权利要求2所述的一种支柱绝缘子污秽度识别方法，其特征在于，所述步骤二中选取有效时间段的多个泄漏电流幅值数据和多个环境湿度数据的步骤具体包括：

步骤20，统计雨量累积值连续为0的第一时间段内的泄漏电流数据及环境湿度数据；

步骤21，在所述第一时间段中去掉前后第二时间段的数据，计算中间时间段中的环境湿度的变化范围，判断所述变化范围是否在50％～98％范围内；

步骤22，如果所述判断结果为满足，则将所述第一时间段作为有效时间段；否则把所述第一时间段的时间顺延第三时间段，获得当前的第一时间段，并返回步骤20。

4.如权利要求3所述的一种支柱绝缘子污秽度识别方法，其特征在于，所述步骤三具体包括：

将第二特征系数b代入等值附盐密度预测模型公式：ESDD＝0.008e^0.444b，计算获得所述第二特征系数b所对应的等值附盐密度；

根据所述第二特征系数b查询预先存储的第二特征系数b与支柱绝缘子的污秽度等级映射表，获得所述第二特征系数所对应的污秽度等级。

5.如权利要求3所述的一种支柱绝缘子污秽度识别方法，其特征在于，所述步骤三具体包括：

将所述第二特征系数代入分区段等值附盐密度预测模型公式：ESDD＝mb+n，计算获得所述第二特征系数b所对应的等值附盐密度，其中，m、n为所述第二特征系数b所处区段的系数，其值为预先存储获得；

根据所述第二特征系数b查询预先存储的第二特征系数b与支柱绝缘子的污秽度等级映射表，获得所述第二特征系数所对应的污秽度等级。

6.如权利要求4或5所述的一种支柱绝缘子污秽度识别方法，其特征在于，所述第一时间周期为5分钟，所述第二时间周期为1分钟；所述第一时间段为60小时，所述第二时间段为6小时，所述第三时间段为2小时。