[发明专利]一种缓解压水堆一回路结构材料应力腐蚀的方法有效

专利信息
申请号: 201410730122.6 申请日: 2014-12-04
公开(公告)号: CN104593778B 公开(公告)日: 2017-02-22
发明(设计)人: 海正银;王辉;辛长胜;胡勇;田珏;曹林园 申请(专利权)人: 中国原子能科学研究院
主分类号: C23F11/10 分类号: C23F11/10
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 102413 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 一种 缓解 压水堆一 回路 结构 材料 应力 腐蚀 方法
【权利要求书】:

1.一种缓解压水堆一回路结构材料应力腐蚀的方法,其特征在于,该方法是向压水堆一回路的冷却剂内加入贵金属盐溶液,其中贵金属盐溶液在冷却剂中的浓度范围为10-1000μg/kg,注入量为1~100μg/天;所述贵金属盐溶液为Pt、Rh的单独盐溶液或二者的混合盐溶液。

2.根据权利要求1所述的一种缓解压水堆一回路结构材料应力腐蚀的方法,其特征在于,贵金属盐溶液是按照以下方式和步骤加入的:

1)在热停堆工况下,向压水堆一回路冷却剂中加入贵金属盐溶液;然后在堆正常运行工况下,使用一个或多个电化学测试系统监测压水堆一回路的电化学腐蚀电位,当监测的任一电化学腐蚀电位大于-300mV(标准氢电极电位),再次持续加入贵金属盐溶液;所述贵金属盐溶液为Pt、Rh的单独盐溶液或者二者的混合盐溶液;

2)待监测的压水堆一回路电化学腐蚀电位均下降至-400mV(标准氢电极电位)后,停止注入贵金属盐溶液;

3)当监测的任一电化学腐蚀电位升高10mV时(标准氢电极电位),加入贵金属盐溶液至电化学腐蚀电位下降至-400mV以下;

4)重复步骤2、3,使电化学腐蚀电位下降至-400mV以下(标准氢电极电位)。

3.根据权利要求2所述的一种缓解压水堆一回路结构材料应力腐蚀的方法,其特征在于,步骤(1)中所述的电化学测试系统位于上充系统、堆芯、主管道处以及主蒸汽发生器排污口处。

4.根据权利要求1或2所述的一种缓解压水堆一回路结构材料应力腐蚀的方法,其特征在于,当贵金属盐溶液为Pt、Rh的混合溶液时,Pt和Rh的比例为1:1~1:10。

5.根据权利要求1所述的一种缓解压水堆一回路结构材料应力腐蚀的方法,其特征在于,贵金属盐溶液在冷却剂中的浓度为200μg/kg,注入量为20μg/天。

6.根据权利要求1或2所述的一种缓解压水堆一回路结构材料应力腐蚀的方法,其特征在于,所述Pt、Rh的盐溶液分别为六羟基铂酸钠溶液和六羟基铑酸钠溶液。

7.根据权利要求2所述的一种缓解压水堆一回路结构材料应力腐蚀的方法,其特征在于,步骤(1)中所述贵金属盐溶液是通过上充系统或独立注入系统加入的。

8.根据权利要求7所述的一种缓解压水堆一回路结构材料应力腐蚀的方法,其特征在于,所述独立注入系统包括贵金属盐溶液储罐、高精度微计量泵、循环泵。

9.根据权利要求2所述的一种缓解压水堆一回路结构材料应力腐蚀的方法,其特征在于,所述的电化学测试系统主要包括电化学工作站、工作电极、Cu/CuO参比电极和Pt片辅助电极。

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