[发明专利]一种多路纤芯测试装置及方法

权利要求书

1.一种多路纤芯测试装置，其特征在于，所述的多路纤芯测试装置包括：脉冲发生器、光源、光路开关、定向耦合器、光电检测器、信号处理装置、MCU芯片及主时钟；所述的光路开关设有多个光传输端口，每一光传输端口连接一备用光纤；其中，

所述的主时钟向所述的脉冲发生器发送一时钟信号，并向所述的信号处理装置发送一频率信号；

所述的MCU芯片向所述的脉冲发生器发送一周期发射时间信号，并向所述的光路开关发送一开关切换信号；

所述的脉冲发生器根据所述时钟信号产生电脉冲信号，并根据所述周期发射时间信号将所述的电脉冲信号发送至所述的光源；

所述的光源将所述的电脉冲信号转换为光脉冲信号，并将所述的光脉冲信号发送至所述的定向耦合器；

所述的定向耦合器将所述光脉冲信号输出至所述的光路开关；

所述的光路开关接收所述的光脉冲信号及所述开关切换信号，根据所述开关切换信号连接对应光传输端口的备用光纤，然后将所述光脉冲信号传送给所述对应光传输端口的备用光纤并接收回馈的光信号，将所述光信号传送给所述的定向耦合器；

所述的定向耦合器接收所述光信号，并将所述光信号输出至所述的光电检测器；

所述的光电检测器将所述光信号转换为电信号，并将所述电信号输出至所述的信号处理装置；

所述的信号处理装置接收所述频率信号及电信号，根据所述的频率信号将所述的电信号转换为数字信号，根据所述的数字信号生成发光强度-距离性能曲线，并将所述的发光强度-距离性能曲线传输至所述的MCU芯片；

所述MCU芯片根据所述的发光强度-距离性能曲线对所述对应光传输端口的备用光纤的性能参数进行比对，生成测试结果。

2.根据权利要求1所述的多路纤芯测试装置，其特征在于，所述MCU芯片具体用于：

根据所述的发光强度-距离性能曲线获取所述对应光传输端口的备用光纤的测试距离误差及衰耗值；

判断所述测试距离误差与一标准误差值的大小，并判断所述衰耗值与一标准衰耗值的大小；

当所述测试距离误差大于所述标准误差值，和/或所述衰耗值大于所述标准衰耗值时，判断所述对应光传输端口的备用光纤为问题光纤；否则，判断所述对应光传输端口的备用光纤为正常光纤；

输出对所述对应光传输端口的备用光纤的判断结果作为所述的测试结果。

3.根据权利要求2所述的多路纤芯测试装置，其特征在于，所述的多路纤芯测试装置还包括：放大器，所述的放大器连接于所述的光电检测器与信号处理装置之间，所述的放大器接收所述光电检测器输出的所述电信号，将所述的电信号进行放大后传输至所述的信号处理装置。

4.根据权利要求3所述的多路纤芯测试装置，其特征在于，所述的多路纤芯测试装置还包括：数据输出装置，所述的数据输出装置与所述MCU芯片连接，接收并输出所述的测试结果。

5.根据权利要求4所述的多路纤芯测试装置，其特征在于，所述的多路纤芯测试装置还包括：显示器，所述的显示器与所述的数据输出装置连接，接收并显示所述的发光强度-距离性能曲线及测试结果。

6.一种多路纤芯测试方法，应用于如权利要求1所述的多路纤芯测试装置，其特征在于，所述的多路纤芯测试方法包括：

所述脉冲发生器产生一电脉冲信号，并将所述的电脉冲信号发送至所述的光源；

所述光源将所述的电脉冲信号转换为光脉冲信号，并通过所述的定向耦合器将所述光脉冲信号发送至所述的光路开关；

所述光路开关根据所述MCU芯片发送的一开关切换信号连接对应光传输端口的备用光纤，将所述光脉冲信号传输至所述对应光传输端口的备用光纤并接收回馈的光信号，然后通过所述定向耦合器将所述光信号传输至所述的光电检测器；

所述光电检测器将所述光信号转换为电信号，并将所述电信号输出至所述的信号处理装置；

所述信号处理装置接收所述电信号，根据所述的电信号生成发光强度-距离性能曲线，并将所述的发光强度-距离性能曲线传输至所述的MCU芯片；

所述MCU芯片根据所述的发光强度-距离性能曲线对所述对应光传输端口的备用光纤的性能参数进行比对，生成测试结果。