[发明专利]一种利用可旋转光栅测量的位移测量系统有效
申请号: | 201410720041.8 | 申请日: | 2014-12-01 |
公开(公告)号: | CN104359410A | 公开(公告)日: | 2015-02-18 |
发明(设计)人: | 张鸣;朱煜;崔健彰;王磊杰;叶伟楠;杨开明;胡金春;徐登峰;成荣;张利;赵彦坡;胡清平;张金;尹文生;穆海华 | 申请(专利权)人: | 清华大学;北京华卓精科科技有限公司 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02 |
代理公司: | 北京鸿元知识产权代理有限公司 11327 | 代理人: | 邸更岩 |
地址: | 100084 北京市海淀区1*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 利用 旋转 光栅 测量 位移 系统 | ||
1.一种利用可旋转光栅测量的位移测量系统,该系统包括激光器(1)、光栅(3)、光电转换器(4)和电子信号处理部件(5),其特征在于,所述系统还包括凸透镜(2)和折光元件,该折光元件为回转体;所述的凸透镜(2)的中心位于激光器(1)的激光光轴上,所述折光元件的轴线与激光光轴重合;激光器(1)产生的激光垂直入射到光栅(3)上;光栅(3)产生的正负级衍射光经过折光元件后,折射并形成与激光光轴平行的两束光,然后经凸透镜(2)汇聚到光电转换器(4)上形成干涉信号,该干涉信号经光电转换器(4)转换成电信号后输入到电子信号处理部件(5)之中。
2.根据权利要求1所述的一种利用可旋转光栅测量的位移测量系统,其特征在于:激光器(1)位于凸透镜(2)与光电转换器(4)之间,激光器(1)发出的激光依次经过凸透镜(2)、折光元件后垂直入射到光栅(3)上。
3.根据权利要求1或2所述的一种利用可旋转光栅测量的位移测量系统,其特征在于:所述的折光元件采用圆锥镜(6a),其轴截面为等腰三角形。
4.根据权利要求1或2所述的一种利用可旋转光栅测量的位移测量系统,其特征在于:所述的折光元件采用圆台形透镜(6b),其轴截面为等腰梯形。
5.根据权利要求1或2所述的一种利用可旋转光栅测量的位移测量系统,其特征在于:所述的折光元件采用凹面反射镜(6c),所述的凹面反射镜(6c)为内部空心圆台状。
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