[发明专利]一种单晶硅收尾方法及单晶硅制备方法有效
申请号: | 201410707692.3 | 申请日: | 2014-11-28 |
公开(公告)号: | CN104372399B | 公开(公告)日: | 2016-11-23 |
发明(设计)人: | 司佳勇;周浩;尚繁 | 申请(专利权)人: | 英利能源(中国)有限公司 |
主分类号: | C30B15/20 | 分类号: | C30B15/20;C30B29/06 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 王宝筠 |
地址: | 071051 河*** | 国省代码: | 河北;13 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 单晶硅 收尾 方法 制备 | ||
1.一种单晶硅收尾方法,其特征在于,该方法包括:
步骤S10:使晶体下降,直至浸入溶液中,提高热场温度;
步骤S20:使晶体的生长方向向上,提高热场温度;
步骤S30:晶体收尾长度达到第一阈值时,提高热场温度,当晶体收尾长度达到第二阈值时,降低晶体直径;
步骤S40:当晶体收尾长度为50mm-80mm,且晶体直径小于50mm时,将晶体与溶液提断。
2.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤S10中,所述晶体以0.5mm/min的速度下降。
3.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤S10中,所述热场温度提高的范围为10sp-45sp。
4.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤S10中在提高热场温度之后还包括:
逐步降低坩埚的旋转速度,所述坩埚的旋转速度逐步由8rpm/min降低至5rpm/min。
5.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤S10中,在晶体下降之前还包括将坩埚的提升速度变为零。
6.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤S10中,所述晶体进入溶液中的长度为1mm-3mm。
7.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤S20中,所述步骤S20中,在使晶体生长方向向上之前还包括:
将晶体的生长速率提高至0.5mm/min-1mm/min。
8.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤S20中,所述热场温度提高的范围为60sp-80sp。
9.如权利要求1所述的方法,其特征在于,所述步骤S30中,所述热场温度提高的范围为100sp-140sp。
10.一种单晶硅制备方法,其特征在于,所述单晶硅制备方法包括化料、引晶、缩径、放肩、等径生长以及收尾,所述收尾包括如权利要求1至9任一项所述的单晶硅收尾方法。
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