[发明专利]平行光管装校方法

权利要求书

1.一种平行光管装校方法，其特征在于，包括以下步骤：

S1、安装平行光管并进行初调；

S2、判断步骤S1安装并初调后的所述平行光管是否满足预设的设计指标要求；

S3、根据步骤S2的判断结果，

若所述平行光管不符合预设的设计指标要求，获取所述平行光管中各光学部件的失调量值并根据所述失调量值再次调试所述平行光管；

若所述平行光管符合预设的设计指标要求，结束装校操作。

2.根据权利要求1所述的平行光管装校方法，其特征在于，步骤S1中的所述初调包括对所述平行光管的光轴进行对准装校以及对理想焦面位置进行调整。

3.根据权利要求1所述的平行光管装校方法，其特征在于，步骤S2包括以下步骤：

S21、获取所述平行光管的波像差；

S22、求得步骤S21中得到的所述波像差与理论值之间的偏差值；

S23、根据步骤S22求得的所述偏差值得出安装并初调后的所述平行光管是否符合预设的设计指标要求的结论。

4.根据权利要求3所述的平行光管装校方法，其特征在于，步骤S21中，所述平行光管的波像差由激光干涉仪测量得到，所述激光干涉仪置于所述平行光管焦面处。

5.根据权利要求3所述的平行光管装校方法，其特征在于，步骤S22中所述波像差采用Zernike多项式形式表示。

6.根据权利要求1所述的平行光管装校方法，其特征在于，步骤S3中所述“获取所述平行光管中各光学部件的失调量值并根据所述失调量值再次调试所述平行光管”包括以下步骤：

S31、获取波像差值与平行光管各元件的失调量值的等量关系；

S32、根据步骤S22求得的所述偏差值以及步骤S31中获取的所述等量关系得出平行光管各元件的失调量值；

S33、根据步骤S32获得的所述失调量值调整平行光管的各元件。

7.根据权利要求6所述的平行光管装校方法，其特征在于，步骤S31包括以下步骤：

S311、给平行光管各元件的位置结构参数设置一增量；

S312、获取步骤S311所述增量导致的像差变量；

S313、将步骤S313中获取的所述像差变量与步骤S311中获取的所述增量作商并由此建立平行光管的灵敏度矩阵；

S314、由步骤S313中获得的所述灵敏度矩阵得出波像差值与平行光管各元件的失调量值的等量关系。