[发明专利]一种在线测量IGBT模块瞬态热阻的方法和装置有效
申请号: | 201410699863.2 | 申请日: | 2014-11-27 |
公开(公告)号: | CN104458799B | 公开(公告)日: | 2017-08-22 |
发明(设计)人: | 梅云辉;王美玉;陆国权;李欣;王磊 | 申请(专利权)人: | 天津大学 |
主分类号: | G01N25/20 | 分类号: | G01N25/20 |
代理公司: | 天津市北洋有限责任专利代理事务所12201 | 代理人: | 王丽 |
地址: | 300072 天*** | 国省代码: | 天津;12 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 在线 测量 igbt 模块 瞬态 方法 装置 | ||
技术领域
本发明涉及一种新的测量IGBT模块中各层材料和材料连接界面的瞬态热阻的方法和装置,具体地说,涉及以IGBT的门极-发射极电压作为热敏参数测量瞬态热阻的方法及装置,属于电子封装模块关键性能测试领域创新型技术。
背景技术
近年来,IGBT模块趋于集成化和微型化,被越来越广泛应用于高温环境中,功率密度和热应力不断增大,其峰值热通量甚至高达300W/cm2,严重影响了IGBT模块的热性能。在IGBT模块中,连接层是影响其使用性能、可靠性及工作寿命的最重要的部分。因此,能够准确测量IGBT模块尤其是连接层的温升和热阻,对于研究模块失效机理和寿命预测具有重要意义。传统测量的稳态热阻,包括整个模块中所有材料和界面对热阻的贡献,难以测量每层材料和界面在模块中的热阻。瞬态热阻根据热扩散原理,基于热时间常数来控制热量的传导,可以得到任意层材料和界面在结构中的热阻。目前,测量瞬态热阻的主要方法有:热传感器法、红外热探测法和电学法。热传感器法和红外热探测法都必须破坏封装结构,响应时间长,操作技术复杂,不能满足IGBT结温和瞬态热阻在线精确快速测量的要求。现有的电学法以PN结正向压降作为热敏参数,其压降与结温的K系数约为2mV/℃,灵敏度较低,测量出的结温和瞬态热阻值误差较大。
发明内容
本发明主要解决测量IGBT模块中各层材料和材料连接界面的瞬态热阻的问题,提供了一种在线测量,方便快捷,操作简单,精确度高的方法和装置。IGBT模块结构示意图如图1所示。本发明采用以IGBT的门极-发射极电压VGE作为热敏参数的电学法,设计制造了瞬态热阻测量系统,测量得出的VGE与TJ的K系数约为10mV/℃,具有较高的精度,根据热时间常数τ,控制脉冲通电时间tH=τ,tH可精确至微秒级,实现在线测量封装结构中的各层材料和材料连接界面的瞬态热阻,方便快捷,精确度高,稳定性好,对于模块失效分析和性能评估具有重要的应用价值。
本发明方法通过以下技术方案实现。
一种在线测量IGBT模块中各层材料及材料连接界面的瞬态热阻的装置,首先,将被测IGBT模块置于K值校准炉内,IGBT模块与测试电路板连接,测试电路板输入端与可编程直流电源连接,输出端与示波器连接,示波器输出端与计算机连接,在计算机上计算得到K系数值;然后,将被测IGBT模块与测试电路板连接,置于恒温测试平台上,恒温测试平台与水冷散热系统连接,恒温测试平台和测试电路板置于静止空气箱内,测试电路板输入端与可编程直流电源连接,输出端与示波器连接,示波器输出端通过数据采集系统与计算机连接,在计算机上计算得到瞬态热阻值。
所述K值校准炉,用来校准门极-发射极电压VGE与结温TJ的K系数值,使用的校准温度范围为20~125℃,校准温度间隔为5℃,在校准温度下的保温时间为10min;
所述测试电路板:测试电路板中的电路包括IGBT模块的驱动电路、缓冲电路和测试电路;在驱动电路中,控制脉冲信号由单片机输出,由MOSFET开关调节电流感应电路,使IGBT处于加热阶段或冷却测试阶段,MOSFET开关由TPS2816高速驱动器控制;在测试电路中,利用PI反馈控制保证加热脉冲功率稳定,利用RC滤波耦合降低噪声干扰;缓冲电路将IGBT的VGE输出端子与示波器的测量端子隔离开,避免了示波器指针的干扰,提高了测试精度。
所述恒温测试平台,其温度范围为0~100℃,恒温测试平台由6021铝合金板内嵌铜管制成,铜管与水冷散热系统连接,水冷散热系统由循环泵和流动水箱组成,循环泵静态扬程6m,静态流量50L/min。
所述铝合金板尺寸为30cm×25cm×2cm,铜管直径为2cm.
所述静止空气测试箱,是完全密封的有机玻璃箱,将IGBT模块,测试电路板及恒温测试平台放置在静止空气测试箱内,避免空气流动引起的噪声干扰。
所述可编程直流电源,用来给IGBT模块提供加热电压VH,其输出功率达160W,瞬态响应时间小于50uS;电流表用来监测加热电流IH,其测量速度达10Krdgs/s,准确测量出IGBT模块开关瞬间的电流变化。
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