[发明专利]一种LED芯片寿命快速估算方法

权利要求书

1.一种LED芯片寿命快速估算方法，其特征在于，包括以下步骤：

A、选样品

对同一批次的LED芯片随机选取样品2个，分别编号为1号样品、2号样品，在300K温度环境中，给1号样品加额定工作电流，测量得到初始光通量Φ₀；

B、老化前的测量

给1号样品分别加恒定反向电压V₀，测量得到初始反向电流I₀；

C、老化测试

将1号样品放入第1个测试箱，2号样品放入第2个测试箱，第1个和第2个测试箱分别设定测试温度为T₁和T₂，其中300K≤T₁＜T₂，第1个和第2个测试箱分别设定测试电流为额定电流，开始老化测试，选定测试箱温度较高的那个样品来测光通量，当其光通量衰减为初始光通量的70%时，这两个样品都停止老化，记录老化时间t₁； 

D、老化后测量

从2个测试箱取出测试样品，给样品分别加恒定反向电压V₀，1号样品测量得到反向电流I₁，2号样品测量得到反向电流I₂；

E、寿命估算

将三组条件：1、T=300K，t=0，I=I₀，2、T= T₁，t= t₁，I=I₁，3、T= T₂，t= t₁，I=I₂分别代入如下寿命估算公式

得到方程组

解方程组得到

将条件T=300K，I=I₂代入寿命估算公式

解得LED芯片寿命时间为

。