[发明专利]用于自适应深度偏移压缩的方法和设备

说明书

本发明涉及自适应深度偏移压缩。由于使用每残余物相同数目的比特的深度偏移压缩不是最佳的比特分布，因此可以代之以根据瓦片的深度的内容来分布每残余物的比特。例如，如果与Zmax接近的深度差较小，则可以针对相对于Zmax编码的样本在残余物上花费更少的比特。因此，可以针对相对于Zmin编码的样本在残余物上花费更多的比特。由此，更多瓦片成功压缩至所需数目的比特。

技术领域

本发明总体涉及用于计算机的图形处理，并且具体涉及深度偏移压缩。

背景技术

在深度偏移压缩中，存储了像素的瓦片或矩形区域的最小深度(Zmin)和最大深度(Zmax)。相对于Zmin或Zmax对每个样本的深度进行编码。使用剩余比特来存储掩码，该掩码指示每个样本是相对于Zmin还是Zmax而取得的并对所谓的“残余比特”进行编码，“残余比特”指定相对于Zmin或Zmax的每个样本的差值。现有深度偏移压缩技术使用每残余物(residuals)相同数目的比特。

压缩方法正在变得对图形硬件架构来说越来越重要，这是由于它们可以降低功率和/或提高性能。如果所有残余物足够小以适合于瓦片的期望比特预算内，则压缩是成功的。否则，可以以未压缩的形式存储数据，或者可以使用某种其他技术来压缩数据。还可以在用于颜色缓冲压缩的各个颜色分量上使用相同深度偏移压缩。

附图说明

关于下面的附图来描述一些实施例：

图1是一个实施例的示意描绘；

图2是一个实施例的流程图；

图3是根据一个实施例的分割残余物的流程图；

图4是另一种用于分割残余物的技术的流程图；

图5是根据一个实施例的示出如何测试如图4中所示的所有可能Zmin比特的流程图；

图6是根据一个实施例的用于处理Zmin和Zmax的偏态分布的流程图；

图7是在垂直轴上为针对Zmin分配的比特且在水平轴上为跨瓦片的样本位置的曲线图；

图8是根据一个实施例的示出可如何处理分布的相同曲线图的假设示例的描绘；

图9是一个实施例的系统描绘；以及

图10是一个实施例的正面立视图。

具体实施方式

由于使用每残余物相同数目的比特不是最佳的比特分布，因此可以代之以根据瓦片的深度的内容来分布每残余物的比特。例如，如果与Zmax接近的深度差较小，则可以针对相对于Zmax编码的样本在残余物上花费更少的比特。因此，可以针对相对于Zmin编码的样本在残余物上花费更多的比特。由此，可以将更多瓦片向下压缩至所需数目的比特。

在图1中，图形处理器10可以包括光栅化管线，该光栅化管线包括光栅化单元40、纹理和片段处理单元42以及深度或Z比较和混合单元44。在一些实施例中，这些单元中的每一个可以整体地或部分地由软件或硬件实现。

纹理和片段处理单元42耦合至纹理高速缓存46。高速缓存46进而通过纹理解压缩模块54耦合至存储器分区60。因此，可以在存储器分区与高速缓存之间解压缩高速缓存中存储的纹理信息。

深度比较和混合单元44耦合至深度缓冲高速缓存48、颜色缓冲高速缓存50和瓦片表高速缓存52。进而，深度缓冲高速缓存48通过深度缓冲编码器/解码器（编解码器）56耦合至存储器分区60。同样地，颜色缓冲高速缓存50通过颜色缓冲编码器/解码器（编解码器）58耦合存储器分区60。存储器分区60可以耦合至可作为系统存储器的一部分的动态随机存取存储器（DRAM）62、64、66和68。在一些实施例中，可以使用统一高速缓存，其包括纹理高速缓存、深度缓冲高速缓存和颜色缓冲高速缓存。