[发明专利]一种低温扫描激光显微镜的光学系统在审
| 申请号： | 201410694429.5 | 申请日： | 2014-11-27 |
| 公开（公告）号： | CN104374778A | 公开（公告）日： | 2015-02-25 |
| 发明（设计）人： | 王华兵;周宪靖;袁洁;吴培亨 | 申请（专利权）人： | 南京大学 |
| 主分类号： | G01N21/84 | 分类号： | G01N21/84 |
| 代理公司： | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人： | 邱兴天 |
| 地址： | 210093 江*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 低温 扫描 激光 显微镜 光学系统 | ||
【权利要求书】：
1.一种扫描激光显微镜的光学系统，其特征在于：包括激光器（1）、环行器（2）、光电探测器（3）、光纤（4）和渐变折射率棱镜（5）；所述的激光器（1）、光电探测器（3）和光纤（4）均与环行器（2）相连，所述的渐变折射率棱镜（5）与光纤（4）相连。
2.根据权利要求1所述的扫描激光显微镜的光学系统，其特征在于：所述的环行器（2）用于隔离激光器（1）出射的激光和从样品上反射的激光；从激光器（1）出射的激光通过环形器（2）耦合至光纤（4）中，从样品上反射的激光经环形器（2）耦合到光电探测器（3）上。
3.根据权利要求1所述的扫描激光显微镜的光学系统，其特征在于：所述的光电探测器（3）用于检测从样品上反射的激光的光强。
4.根据权利要求1所述的扫描激光显微镜的光学系统，其特征在于：所述的渐变折射率棱镜（5）设在低温扫描激光显微镜的恒温器内部。
5.根据权利要求1所述的扫描激光显微镜的光学系统，其特征在于：所述的环行器（2）设在扫描激光显微镜的恒温器外部。
6.根据权利要求1所述光学系统，其特征在于：所述的渐变折射率棱镜（5）将从光纤上出射的激光聚焦成大小为1微米的光斑。
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