[发明专利]验证芯片设计的方法有效
| 申请号： | 201410691966.4 | 申请日： | 2014-11-25 |
| 公开（公告）号： | CN104462674A | 公开（公告）日： | 2015-03-25 |
| 发明（设计）人： | 吕明 | 申请（专利权）人： | 三星半导体（中国）研究开发有限公司;三星电子株式会社 |
| 主分类号： | G06F17/50 | 分类号： | G06F17/50 |
| 代理公司： | 北京铭硕知识产权代理有限公司 11286 | 代理人： | 张川绪 |
| 地址： | 215021 江苏省苏*** | 国省代码： | 江苏;32 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 验证 芯片 设计 方法 | ||
1.一种验证芯片设计的方法，包括：
(A)根据需要验证的芯片设计确定功能覆盖项以及测试代码；
(B)基于测试代码随机测试功能覆盖项，以获得每次随机测试结束时的累计功能覆盖率；
(C)在累计功能覆盖率没有达到预定值的情况下，根据已完成的各次随机测试对应的测试结束时间和累计功能覆盖率计算累计功能覆盖率的收敛时间；
(D)根据累计功能覆盖率的收敛时间更新功能覆盖项和/或测试代码，然后基于更新的功能覆盖项和/或测试代码返回执行步骤(B)，
其中，所述累计功能覆盖率是累计的已测试完的功能覆盖项占全部功能覆盖项的百分比。
2.如权利要求1所述的方法，其中，步骤(C)包括：
每隔预定随机测试次数或每隔预定时间，在累计功能覆盖率没有达到预定值的情况下，根据已完成的各次随机测试对应的测试结束时间和累计功能覆盖率计算累计功能覆盖率的收敛时间。
3.如权利要求1所述的方法，其中，步骤(C)包括：
(c1)在累计功能覆盖率没有达到预定值的情况下，根据已完成的各次随机测试对应的测试结束时间和累计功能覆盖率，确定时间和累计功能覆盖率之间的拟合曲线；
(c2)确定所述拟合曲线的收敛时间，其中，所述拟合曲线第一次达到预定值的累计功能覆盖率时对应的时间为拟合曲线的收敛时间。
4.如权利要求1所述的方法，其中，在步骤(D)中，在累计功能覆盖率的收敛时间超过目标完成时间的情况下，更新功能覆盖项和/或测试代码。
5.如权利要求4所述的方法，其中，在步骤(D)中，在累计功能覆盖率的收敛时间超过目标完成时间的情况下，根据累计功能覆盖率的收敛时间与目标完成时间之间的时间差更新功能覆盖项和/或测试代码。
6.如权利要求4所述的方法，还包括：
(E)在累计功能覆盖率的收敛时间没有超过目标完成时间的情况下，返回步骤(B)。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于三星半导体（中国）研究开发有限公司;三星电子株式会社，未经三星半导体（中国）研究开发有限公司;三星电子株式会社许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410691966.4/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种五轴加工中心铣削力计算方法
- 下一篇：一种发动机仿真设计方法
