[发明专利]一种MRI系统的快速主动匀场方法在审

专利信息
申请号: 201410674865.6 申请日: 2014-11-21
公开(公告)号: CN104502873A 公开(公告)日: 2015-04-08
发明(设计)人: 张乔夫;王雷;朱剑锋;李璟 申请(专利权)人: 鑫高益医疗设备股份有限公司
主分类号: G01R33/3875 分类号: G01R33/3875
代理公司: 宁波诚源专利事务所有限公司 33102 代理人: 刘凤钦;邓青玲
地址: 315400 *** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 mri 系统 快速 主动 方法
【说明书】:

技术领域

发明涉及一种MRI系统的快速主动匀场方法。

背景技术

磁共振成像(Magnetic Resonance Imaging,MRI)是医学影像领域中的一种高新技术,它利用特定的射频脉冲和经过空间编码的磁场,使生物体内的氢核共振产生信号,经计算机处理而成像。自20世纪70年代问世以来,MRI技术发展迅速,由于其具有对比度高、成像参数多、可任意层面断层成像、无骨伪影干扰、无电离辐射等特点,目前已经成为影像学检查中最先进的工具之一,广泛应用于人体各部位的临床检查。

使用MRI系统进行人体扫描时,人需要进入MRI系统提供的特定磁场当中。然后,受磁体设计、制造工艺以及原材料物理性质之间差异等多方面因素的影响和限制,任何磁体出厂后都不可能使整个有效孔径内的磁场完全均匀。因此,磁体安装就位后,还要在现场对磁场均匀度进行优化,这个过程称为匀场(shimming)。常用的匀场方法有被动匀场和主动匀场。另外,当不同的人进入磁场后也会对磁场的均匀性产生一定的影响,使得成像的效果不理想,因此需要借助主动匀场来实现针对个体的匀场。

主动匀场(active shimming)又称为有源匀场,是指在匀场线圈(shimming coils,一阶匀场线圈常用梯度线圈代替)中通以电流,产生附加磁场,并通过适当调整匀场线圈阵列中各线圈的电流强度,使其周围的局部磁场发生变化来调节改善静磁场的不均匀性,以提高静磁场整体均匀性的过程。

然而,现有的对MRI系统进行主动匀场的技术,普遍匀场效果不佳,频率压脂效果不好,匀场过程不够快速稳定,有待于进一步改进。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是针对上述现有技术提供一种MRI系统的快速匀场方法,该方法能够获得很好的匀场效果,改善频率压脂序列的临床表现,同时匀场过程快速稳定。

本发明解决上述技术问题所采用的技术方案为:一种MRI系统的快速主动匀场方法,其特征在于:包括如下步骤:

步骤1、设置MRI系统的扫描参数,具体设置过程如下:

步骤(1-1)、在常温条件下,将预先制作好的水模放入MRI扫描仪中扫描,前述水模的纵向驰豫时间T1值为570ms~580ms;

步骤(1-2)、采用双回波序列进行扫描,即采用普通GRE序列,使用两个不同的回波时间进行扫描,就构成了双回波序列扫描,使用双回波序列进行扫描可以采集得到双回波数据;设置扫描参数:重复时间TR选择15ms~25ms;两个回波时间TE的值满足水脂同相;

步骤(1-3)、采集数据,观察采集到的两个回波数据的中心是否对齐,以及采集到的两个回波数据是否是最大值,如不是,重复步骤(1-2),调整扫描参数,直至采集到的两个回波数据的中心对齐,且两个回波数据达到最大值;

步骤2、采集数据,具体过程如下:

步骤(2-1)、对已经进行过被动匀场的MRI设备,记录下当前匀场线圈中电流值,或将当前匀场线圈中电流值清零。

步骤(2-2)、将预先制作好的水模设置在MRI设备的主磁场中央,发射射频脉冲,根据接收到的FID信号的谱峰位置,得到FID信号的中心频率和水脂共振频率差异;

步骤(2-3)、使用步骤1中提及的双回波序列进行扫描,采集双回波数据,根据水脂共振频率差异,设置两个回波中心的时间之差,使得在这两组回波中心水脂相位差保持一致;

步骤3、计算MRI系统磁场的不均匀性分布场,具体过程如下:

步骤(3-1)、同样采用双回波扫描序列,设置的MRI系统扫描参数与步骤1相同;对预先制作好的水模进行扫描,将x、y、z三个方向的匀场电流均设置为0,然后采集一组数据S0,该数据S0的第一个回波数据记为S01,第二个回波数据记为S02;

步骤(3-2)、将步骤(3-1)中采集的数据的两个回波数据通过复数共轭相乘得到两个回波数据的相位差ΔΦ0,ΔΦ0=S01×S*02,S*02是S02的复共轭;

步骤(3-3)、步骤(3-2)得到的相位差ΔΦ0是由MRI系统磁场的不均匀性引起的,因此将步骤(3-2)得到的相位差ΔΦ0作为MRI系统磁场的不均匀性分布场;

步骤4、复值迭代逼近方法获得磁化矢量相位信息:

步骤(4-1)、采用逼近函数和迭代算法,对步骤3得到的相位差ΔΦ0进行局部或者全局逼近,得到相位差ΔΦ0的变化率;

步骤(4-2)、将步骤(4-1)得到的相位差ΔΦ0变化率作为该MRI系统的匀场系数;

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