[发明专利]测试互联条与太阳能电池主栅线接触电阻的方法在审
申请号: | 201410673968.0 | 申请日: | 2014-11-21 |
公开(公告)号: | CN105675989A | 公开(公告)日: | 2016-06-15 |
发明(设计)人: | 乔虹桥;王翀;黄勇;潘莉 | 申请(专利权)人: | 上海太阳能工程技术研究中心有限公司 |
主分类号: | G01R27/02 | 分类号: | G01R27/02 |
代理公司: | 上海科盛知识产权代理有限公司 31225 | 代理人: | 杨元焱 |
地址: | 200241 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 测试 互联条 太阳能电池 主栅线 接触 电阻 方法 | ||
技术领域
本发明涉及太阳能电池,尤其涉及一种测试互联条与太阳能电池主栅线接触电 阻的方法。
背景技术
光伏行业近几年的高速发展,促使相关的辅材大批量制造和进入光伏市场,辅 材的成本和质量以及可靠性成为关注的热点,光伏生产企业的质量管理或技术部门 需要对新材料的引入进行检测和分析,选择或开发出能够保证电池片的寿命和提升 组件转化效率的优异产品用于太阳能组件生产。
太阳能电池技术的研究和测试领域发展非常迅速,但是在组件技术领域,相关 的分析测试手段很少。用于电池的各种先进的检测仪器和方法主要包括光谱响应测 试、扩散结深测试、TLM比接触电阻率、扩散方阻、SEM、栅线与硅基底的接触 电阻、少子寿命等。其中TLM用于测试栅线的银浆料与硅基体接触电阻,此方法 在半导体领域已经成熟应用。
发明内容
本发明的目的,就是为了解决上述问题,提供一种测试互联条与太阳能电池主 栅线接触电阻的方法。
为了达到上述目的,本发明采用了以下技术方案:一种测试互联条与太阳能电 池主栅线接触电阻的方法,包括以下步骤:
(1)选择主栅线印刷均匀的电池片;
(2)选择相同规格的互联条7根;
(3)将7根互联条分别与电池片的主栅线连接,各互联条从左至右间隔设置, 并且相邻互联条之间的间距从左至右逐渐增加;
(3)采用毫欧姆计分别测试第1根互联条与第2、3、4、5、6、7根互联条 之间的电阻,以及第2根互联条与第3根互联条之间的电阻,第3根互联条与第4 根互联条之间的电阻,第4根互联条与第5根互联条之间的电阻,第5根互联条与 第6根互联条之间的电阻,第6根互联条与第7根互联条之间的电阻,并作记录;
(4)用Excel中的直线作图法,采用TLM的原理,将测试的电阻和对应互联 条之间的间距mm数做出一条直线,在Y轴上截距的二分之一即为互联条与主栅 线的接触电阻。
所述第1根互联条与第2根互联条的间距为2mm,第2根互联条与第3根互 联条的间距为6mm,第3根互联条与第4根互联条的间距为10mm,第4根互联 条与第5根互联条的间距为14mm,第5根互联条与第6根互联条的间距为18mm, 第6根互联条与第7根互联条的间距为22mm。
所述互联条与电池片主栅线的连接关系包括焊接连接或导电胶连接。
所述互联条包括含银、含铅或无铅互联条。
所述电池片包括单晶硅电池片或多晶硅电池片。
所述主栅线为三栅或四栅。
本发明采用TLM的测试原理,设计出了一套简单、准确的测试方法,用于分 析电池与互联条的接触电阻,以及不同连接方式之间差异,从而为选择合适的材料 和生产工艺提供了一个可靠的测试手段,为进行材料的筛选提供了一个辅助工具, 此方法在提高工作效率的同时,也降低了组件封装工艺的风险。
本发明主要用于分析以下材料和工艺:
(1)不同种类如含银,含铅,无铅互联条与电池片主栅线的接触电阻;
(2)采用相同互联条,但不同的电池片银浆料之间的接触电阻;
(3)不同焊接工艺或不同焊接温度下,互联条与电池片主栅线的接触电阻;
(4)不同种类导电胶与电池片主栅线之间的接触电阻;
(5)以上几种在老化测试前后,对比接触电阻的差别以判断材料或工艺的可 靠性。
附图说明
图1是封装前互联条与电池片主栅线连接图;
图2是封装后互联条与电池片主栅线连接图。
图中所示:电池片1,主栅线2,互联条3,背板和EVA4,玻璃和EVA5。
具体实施方式
实施例一:测试焊接和导电胶工艺与电池片主栅线的接触电阻对比,配合参见 图1,操作步骤如下:
(1)选择主栅线印刷均匀的电池片一和电池片二,两片电池为相同生产工 艺,相同银浆烧结而成,电池片主栅线宽度为1.6mm。
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