[发明专利]集成的参考像素

权利要求书

1.一种设备，包括：

包含多个光敏像素的传感器模块，被布置以捕捉区域的图像；以及

所述多个光敏像素中的至少一个光敏像素，被布置以接收电参考信号并且输出校准信号，所述校准信号被布置以校准包含所述传感器模块的成像系统。

2.权利要求1的所述设备，进一步包括：屏蔽，被布置以抑制所述至少一个光敏像素免于接收光辐射。

3.权利要求1的所述设备，其中所述至少一个光敏像素被布置以接收光学参考信号的电表示。

4.权利要求3的所述设备，其中所述光学参考信号的所述电表示含有所述光学参考信号的相位信息。

5.权利要求1的所述设备，其中所述至少一个光敏像素被布置以将所述电参考信号与调制信号混合来形成所述校准信号，所述调制信号被布置以调制用于图像捕捉的区域的照明。

6.权利要求1的所述设备，其中所述至少一个光敏像素包括：光子混合装置（PMD），被布置以混合两个或更多个电信号。

7.权利要求1的所述设备，其中所述多个光敏像素中的其它像素被布置以接收反射离开在区域之内的对象的光辐射并且输出信号以形成区域的图像。

8.一种系统，包括：

照明模块，被布置以发出光辐射来照明区域的至少一部分；

包括多个光敏像素的传感器模块，被布置以捕捉区域的图像；

至少一个光敏像素，被布置以基于照明模块发出光辐射而接收电参考信号并且基于所述电参考信号输出校准信号；以及

校准单元，被布置以基于所述校准信号来校准系统。

9.权利要求8的所述系统，进一步包括：调制组件，被布置以经由调制信号调制所述光辐射。

10.权利要求9的所述系统，其中至少一个光敏像素被布置以将电参考信号与调制信号混合来形成校准信号并且将所述校准信号输出到校准单元。

11.权利要求8的所述系统，进一步包括：光敏组件，被布置以接收所述光辐射并且基于所述光辐射来输出所述电参考信号。

12.权利要求8的所述系统，进一步包括检测组件，所述检测组件被布置以检测跨过所述照明模块的照明源的电压降并且/或检测经过所述照明源的电流，并且基于所述电压降或所述电流来输出所述电参考信号。

13.权利要求8的所述系统，进一步包括：半导体装置，被布置以控制所述照明模块的照明源的；以及检测组件，被布置以基于在所述半导体装置的栅极处的电压来检测所述电参考信号。

14.权利要求8的所述系统，其中所述传感器模块的所述多个光敏像素包含所述至少一个光敏像素。

15.权利要求8的所述系统，其中所述至少一个光敏像素被屏蔽免于光辐射。

16.权利要求8的所述系统，其中所述校准单元被布置以基于对所述校准信号的变化动态地校准系统。

17.权利要求8的所述系统，其中所述系统被布置以基于飞行时间原理来捕捉在区域之内的对象的三维图像。

18.权利要求8的所述系统，其中所述校准信号的幅度与所述照明模块的延迟成比例，所述照明模块的延迟与开启照明序列和发出光辐射相关联。

19.一种方法，包括：

基于调制信号发出光辐射；

基于发出光辐射在参考像素处接收电参考信号，所述参考像素被屏蔽免于光辐射；

将所述电参考信号与所述调制信号混合以形成校准信号；并且

基于所述校准信号校准成像系统，所述成像系统被布置以捕捉由所述光辐射照明的区域的图像。

20.权利要求19的所述方法，进一步包括在光敏组件处接收所述光辐射并且基于接收的所述光辐射在所述光敏组件处输出所述电参考信号。

21.权利要求19的所述方法，进一步包括：检测跨过成像系统的照明源的电压降并且/或检测经过所述照明源的电流，并且基于所述电压降和/或所述电流输出所述电参考信号。

22.权利要求19的所述方法，进一步包括检测在半导体装置的栅极处的电压并且基于所述电压输出所述电参考信号，所述半导体装置被布置以控制所述成像系统的照明源。