[发明专利]存储器件、存储系统和操作存储器件的方法

说明书

一种存储器件，包括：第一存储块，适于经由第一通道发送和接收信号；第二存储块，适于经由第二通道发送和接收信号；以及测试控制单元，适于在测试操作中将所述多个命令信号从所述存储器件的外部施加至所述第一通道和所述第二通道的同时将多个命令信号之中的第一命令信号以不同值施加至所述第一通道和所述第二通道，其中，所述第一命令信号区分所述第一存储块和所述第二存储块的写入操作和读取操作，其中，当在所述测试操作中所述第一存储块执行读取操作时，所述第二存储块执行写入操作，以及从所述第一存储块输出的数据被输入至所述第二存储块。

相关申请的交叉引用

本申请要求2014年4月28日提交的申请号为10-2014-0050784的韩国专利申请的优先权，其全部内容通过引用合并于此。

技术领域

本专利申请文件涉及存储器件、存储系统以及操作存储器件的方法。

背景技术

半导体存储器件市场不断需求更高的集成、更高的容量和更高的操作速度。新一代半导体存储器件被高度集成，且具有可以独立地发送和接收命令信号、地址和数据的多个存储块。另外，新一代半导体存储器件具有集成在单个半导体存储器件中的多个小平面(facet)。

图1是包括多个存储块110_0至110_N的半导体存储器件100的配置图。

半导体存储器件100包括与多个存储块110_0至110_N分别对应的多个通道CH_0至CH_N。多个存储块110_0至110_N可以经由多个通道CH_0至CH_N之中的对应通道接收命令信号和地址、并且可以从半导体存储器件100的外部接收数据以及向半导体存储器件100的外部发送数据。作为参考，多个通道CH_0至CH_N中的每个包括多个用于传输信号的线路。

在制造半导体存储器件100之后，必须执行测试以检查半导体存储器件100是否操作正常。为了执行测试，必须将信号施加至包括在半导体存储器件100中的多个存储块110_0至110_N，且从而操作存储块110_0至110_N。为了将测试信号从外部(例如，测试设备)独立地施加至相应的存储块110_0至110_N，需要信号输入/输出端口在数量上等于包括在半导体存储器件100中的多个通道CH_0至CH_N。

由于测试设备具有有限数量的信号输入/输出端口，所以当用以测试一个存储器件所需要的端口的数量增加时，测试设备一次可以测试的半导体存储器件的数量减少。结果，执行测试所需的时间和成本会增加。

发明内容

各种实施例涉及存储器件、存储系统和操作存储器件的方法，其可以包括经由相应的通道输入和输出信号的多个存储块，以及可以经由减少数量的端口被测试。

另外，各种实施例涉及存储器件、存储系统和操作存储器件的方法，其可以在将测试所需的端口数量最小化的同时，通过控制多个存储块执行不同操作来同时测试多个存储块的信号输入/输出操作。

在一个实施例中，存储器件可以包括：第一存储块；适于经由第一通道发送和接收信号；第二存储块，适于经由第二通道发送和接收信号；以及测试控制单元，适于在测试操中将多个命令信号从存储器件的外部施加至第一通道和第二通道的同时将多个命令信号之中的第一命令信号以不同值施加至第一通道和第二通道，其中，第一命令信号区分第一存储块和第二存储块的写入操作和读取操作，其中，当在测试操作中第一存储块执行读取操作时，第二存储块执行写入操作，且从第一存储块输出的数据被输入至第二存储块。