[发明专利]离子阱质量分析器中直流电压驱动的串级质谱分析方法

权利要求书

1. 离子阱质量分析器中直流电压驱动的串级质谱分析方法，其特征在于依次包括离子选择隔离、碰撞诱导解离和质量扫描分析三个阶段；其中：

所述离子选择隔离阶段，是将被选择的某一母体离子隔离出来，被隔离的离子在离子阱射频工作电压产生的电场作用下，通过与中性气体分子的碰撞冷却被束缚在离子阱中；所述射频工作电压信号为对称波形信号；

所述碰撞诱导解离阶段，在离子阱质量分析器中，在离子阱的电极上施加射频工作电压；施加的射频工作电压为非对称波形，非对称波形的电压信号可以产生直流电压，母体离子在直流电场的作用下，获得能量被激发，偏离离子阱束缚离子中心地带，被激发的母体离子产生高速运动，与离子阱中的中性分子发生碰撞并解离，产生碎片离子，碎片离子在离子阱中经过冷却后被束缚；

所述质量扫描分析阶段，当离子经碰撞诱导解离过程后, 对射频工作电压信号从高频往低频进行线性扫描，射频工作电压信号波形为对称波形，同时在扫描过程中施加偶极激发电压信号，碎片离子在偶极激发电压的作用下，发生共振激发弹出，最终从离子引出电极的引出孔或引出槽中被逐出，被安置在离子阱外的离子探测器检测获得离子的质谱信号。

2. 根据权利要求1所述的串级质谱分析方法，其特征在于：在所述碰撞诱导解离阶段，施加的非对称波形的射频工作电压是数字方波电压，或者是其它形式的非对称波形电压。

3. 根据权利要求1所述的串级质谱分析方法，其特征在于：在所述碰撞诱导解离阶段，非对称射频工作电压的波形, 其波形的非对称程度或占空比的值，根据实验需要加以改变和调节。

4. 根据权利要求1所述的串级质谱分析方法，其特征在于：在所述碰撞诱导解离阶段，离子的射频工作电压的频率和幅度为某一定值。

5. 根据权利要求1所述的串级质谱分析方法，其特征在于：在所述碰撞诱导解离阶段，射频工作电压与偶极共振激发电压频率比值为任意值。

6. 根据权利要求1所述的串级质谱分析方法，其特征在于：所述的离子阱质量分析器包括三维离子阱，二维线形离子阱，或者其它任何几何形状的离子阱质量分析器。

7. 根据权利要求1所述的串级质谱分析方法，其特征在于：非对称波形的射频工作电压施加的时间为任意值。

8. 根据权利要求1所述的串级质谱分析方法，其特征在于：在所述碰撞诱导解离阶段中，冷却和碰撞离子阱内的离子为中性气体。