[发明专利]显示面板测试装置及方法

说明书

技术领域

本发明涉及显示面板测试装置及方法。

背景技术

需要就显示器在完成之前是否正常运行而测试诸如液晶显示器(LCD)之类的平板显示器(FPD)、等离子显示面板(PDP)以及有机发光二极管(OLED)。这种测试主要在包括于显示器中的显示面板上进行，并且在包括驱动芯片的显示器完成之前在显示面板处于单元部分的状态下进行测试。这是因为在测试成品的情况下测试精度及检测水平很高，但是如果发现已经经过多种加工的显示面板的缺陷或问题，那么测试损失非常大。

总的来说，用于测试显示面板的方法包括这样的程序，其中，通过使用测试装置将电信号施加至显示面板，从而确定显示面板是否欠佳。此测试装置还被称为探针块(probeblock)，刀片型装置或针型装置被广泛使用。

具有低分辨率的显示面板具有少量像素，因而数据线或电源线的数量少。因此，可借助间距小的测试装置测试具有低分辨率的显示面板。然而，为了生产具有高分辨率的显示面板，需要在显示面板中设置大量具有相同尺寸的像素，因而在其中形成具有微小间距的大量数据线与电源线。因此，需要用于测试显示面板的测试装置对应显示面板的微小间距。

刀片型或针型测试装置精确接触显示面板的测试点，并且向该测试点施加电信号，从而检测是否存在缺陷。然而，在测试装置与显示面板的微小线宽及间距不能对应的情况下，会发生检测误差。为了解决此问题并且提高生产率，开发了膜型测试装置。

发明内容

[本发明要解决的问题]

同时，测试装置与显示面板接触以便向该显示面板施加电信号，一般来说，其直接接触部分由铜图案等形成，或者电镀有金属。如果测试数量增加，那么电镀有金属的部分容易磨损并且因持续接触显示面板而使铜图案暴露，因而会使检测质量下降。此外，测试装置的耐用性受到限制。尽管为了增加耐久性进行了各种尝试，但是最终膜部件还是仅使用一次。换而言之，如果使用测试装置的次数增加，那么就会因上述耐久性的问题而更换和使用膜部件，这就导致显示器的制造成本增加。此外，在更换膜部件的情况下，会因更换膜部件花费的时间而增加总测试时间，因而不容易保证效率。

本发明的目的是提供一种这样的测试装置，该测试装置使膜滑动，使得在该测试装置与显示面板接触而使部分磨损的情况下切割并使用该膜。

[解决问题的手段]

根据本发明的一方面，提供一种显示面板测试装置，该显示面板测试装置包括：主体；移动部，该移动部附接至所述主体，以便沿前后方向移动；以及驱动膜，该驱动膜与显示面板接触，从而将电信号传送至所述显示面板，并且该驱动膜附接至所述移动部以便与所述移动部一起移动。

可在所述主体中设置槽，并且所述移动部被插入该槽中。

所述显示面板测试装置还可包括沿一个方向按压所述移动部的弹性支撑部。

所述显示面板测试装置还可包括支撑所述移动部并引导移动路径的固定支撑部。

所述显示面板测试装置还可包括旋转按压部，该旋转按压部沿与所述一个方向相反的另一方向按压所述移动部。

所述旋转按压部可包括插入形成在所述主体中的通孔中的螺栓。

所述显示面板测试装置还可包括维持所述驱动膜的形态的引导部。

所述显示面板测试装置还可包括将所述驱动膜连接至所述移动部的更换板。

所述显示面板测试装置还可包括朝所述显示面板按压所述驱动膜的弹性按压部。

根据本发明的另一方面，提供一种显示面板测试方法，该方法包括：通过使驱动膜接触显示面板而测试该显示面板的步骤；通过按压连接至所述驱动膜的移动部而使该移动部向前移动的步骤；切割部分所述驱动膜的步骤。

当与所述显示面板接触的所述驱动膜被损坏时，可以执行使所述移动部向前移动的步骤。

使所述移动部向前移动的步骤可包括使连接至所述移动部的旋转按压部旋转的步骤。

所述驱动膜可附接至更换板，并且所述更换板连接至所述移动部。

所述显示面板测试方法还可包括：从所述移动部分离所述更换板的步骤；以及使附接有新的驱动膜的新的更换板连接至所述移动部的步骤。

当所述移动部不能再移动时，可执行分离所述更换板的步骤。

[本发明的优点]

根据本发明，在测试装置接触显示面板而部分被磨损的情况下，可使滑动膜滑动而切割磨损部分。因此，能够在不用更换整个膜的情况下再进行测试，因而降低成本。此外，能够减少更换膜部件花费的时间，因而能够保证测试过程的效率。

附图说明