[发明专利]集成高压开关管的集成电路及测试开关卡电路

说明书

技术领域

本发明涉及电子测试技术应用领域，特别是涉及一种集成高压开关管的集成电路及测试开关卡电路。

背景技术

随着科技的发展和电子工业的进步，PCB线路密集程度越来越高，导致1块PCB上的被测试点更多，对应测试设备上的测试点数量需求更大。

目前，PCB测试设备的测试开关卡模块一般使用分立的晶体管元件通过程控进行开启和闭合，程控电源把测试用的电流和电压通过连接开关管的测试点加载到被测试的PCB上，再由相应的导通测量电路、绝缘测量电路、对比软件设定的阀值，判断被测试PCB的好坏，线路有无开路、断路。

然而，分立的晶体管元件数量增加对应测试开关卡模块的面积增加、设备运转电机功率变大，不符合现代PCB高度集成、设备体积小型化、节约成本的趋势。

发明内容

基于此，有必要提供一种有利于设备体积小型化设计且成本低的集成高压开关管的集成电路。

此外，还提供一种测试开关卡电路。

一种集成高压开关管的集成电路，包括数量相等且相互配合的P型高压开关管和N型高压开关管，所述N型高压开关管的高电位端与P型高压开关管的低电位端连接；所述N型高压开关管的控制端与P型高压开关管的控制端分别用于外接不同的程控开关，所述P型高压开关管的高电位端用于外接程控电源，所述N型高压开关管的低电位端用于外接导通测量电路和绝缘测量电路。

在其中一个实施例中，还包括ESD防护器件，所述ESD防护器件数量与所述P型高压开关管和N型高压开关管的总数量相等，所述ESD防护器件的一端与P型高压开关管或N型高压开关管的控制端连接，所述ESD防护器件的另一端对应地外接程控电源或外接导通测量电路和绝缘测量电路。

在其中一个实施例中，所述ESD防护器件为双向TVS保护二极管。

在其中一个实施例中，所述N型高压开关管和P型高压开关管分别为NPN型高压晶体管和PNP型高压晶体管；

所述NPN型高压晶体管的基极为所述N型高压开关管的控制端，所述NPN型高压晶体管的集电极为所述N型高压开关管的高电位端，所述NPN型高压晶体管的发射极为所述N型高压开关管的低电位端；

所述PNP型高压晶体管的基极为所述P型高压开关管的控制端，所述PNP型高压晶体管的集电极为所述N型高压开关管的低电位端，所述PNP型高压晶体管的发射极为所述N型高压开关管的高电位端。

在其中一个实施例中，所述N型高压开关管和P型高压开关管分别为N型高压MOS管和P型高压MOS管；

所述N型高压MOS管的栅极为所述N型高压开关管的控制端，所述N型高压MOS管的漏极为所述N型高压开关管的高电位端，所述N型高压MOS管的源极为所述N型高压开关管的低电位端；

所述P型高压MOS管的栅极为所述P型高压开关管的控制端，所述P型高压MOS管的漏极为所述P型高压开关管的低电位端，所述P型高压MOS管的源极为所述P型高压开关管的高电位端。

在其中一个实施例中，所述P型高压开关管、N型高压开关管及ESD防护器件的数量分别为1、1、2。

在其中一个实施例中，所述P型高压开关管和N型高压开关管集成在同一芯片上。

在其中一个实施例中，所述集成高压开关管的集成电路采用的封装类型为DFN、LCC、LGA、TCSP或QFN。

一种测试开关卡电路，包括程控开关、程控电源、导通测量电路和绝缘测量电路，还包括上述集成高压开关管的集成电路，所述程控开关用于连接所述N型高压开关管的控制端或P型高压开关管的控制端，所述程控电源与所述P型高压开关管的高电位端连接，所述导通测量电路和绝缘测量电路所述N型高压开关管的低电位端连接。

上述集成高压开关管的集成电路及测试开关卡电路，通过将P型高压开关管和N型高压开关管集成为1个集成电路，在线路板上占据面积明显减少，同一数量测试点的线路板采用集成电路方式布线面积减少30％～40％，有利于测试开关卡的小型化设计，降低设备结构设计和电机设计成本。

附图说明

图1为一实施例的集成高压开关管的集成电路原理图；

图2为一实施例中集成高压开关管的集成电路封装示意图；

图3为一实施例的测试开关卡电路原理图。

具体实施方式