[发明专利]一种测定锑的共振瑞利散射光谱方法

说明书

技术领域

本发明涉及分析化学领域，具体是测定锑的共振瑞利散射光谱法。

背景技术

锑是一种银白色金属。我国锑的蕴藏量位居世界第一，资源量占世界总量的50%以上，同时我国也是世界生产和出口锑产品第一大国。锑及其化合物主要用于阻燃剂、合金材料、电子元件、玻璃、陶瓷、聚合反应催化剂及药物等。由于锑在工业上的广泛应用，人们已经广泛接触到了锑。锑非人体所必需的元素，锑和它的许多化合物都是有毒的，毒性与砷相似，主要是抑制酶的活性，并且三价锑的毒性大于五价锑。因此，对Sb(III)含量的测定具有重要意义。

氢化物发生实现了待测组分与基体相的分离，大大提高了进样效率和原子化效率，是测定 As、Se、Bi、Ge、Sn、Pb、Sb、Te 和 Hg 的最佳的样品引入方式。许多分析工作者通过研究不同的氢化物发生体系和反应条件，氢化物发生装置，捕集器和原子化器，干扰机理和消除方法，原子化机理以及分析自动化，使这种技术不断发展和完善，并使之与原子吸收光谱法、原子荧光光谱法、等离子原子发射光谱法等技术结合，从而提高了分析的灵敏度和选择性。目前，测定锑的分析方法主要有分光光度法、氢化物发生-原子吸收光谱法、氢化物发生-原子荧光光谱法、高效液相色谱-氢化物发生-原子荧光光度法、电感耦合等离子原子发射光谱法等。分光光度法操作简便，但是灵敏度较差。分析技术的联用提高了测定锑的灵敏度，并且可以对锑进行形态分析，甚至可以同时测定多种元素，但是所需设备昂贵，过程繁杂，成本较高。据我们所知，有关氢化物发生与共振瑞利散射光谱技术结合检测锑的文献还未见报道。

发明内容

本发明的目的是要提供一种简单快速测定Sb(III)的共振瑞利散射光谱法。

一种测定Sb(III)的共振瑞利散射光谱法，包括如下步骤：

（1）制备Sb(III)标准溶液体系：依次移取10～900μL 8.37 mg/L Sb(III)标准溶液加入反应瓶中，再加入150～250 μL 9.0 mol/L H₂SO₄，用二次蒸馏水定容至10 mL，混匀；将具塞分液漏斗装在反应瓶上，在吸收瓶中加入250～350 μL 0.4 mmol/L的I₃^-和550～650 μL 1 g/L的氧化石墨烯作为吸收液，用二次蒸馏水定容至5.0 mL，摇匀。将反应瓶和吸收瓶连接，往分液漏斗中加入10 mL 14.4 g/L的NaBH₄溶液，在5 min内将NaBH₄溶液加入反应瓶，反应结束后，静置15 min。

（2）制备空白对照溶液体系：用步骤（1）的方法不加Sb(III)标准液制备空白对照溶液体系；

（3）分别取按步骤（1）、(2）制备的Sb(III)标准溶液体系及空白对照溶液体系适量，置于比色皿中，在荧光分光光度计上，同步扫描激发波长和发射波长，获得体系的共振瑞利散射光谱，测定体系在322 nm Sb(III)标准溶液体系的共振瑞利散射峰强度值I，以及测定空白对照溶液体系的共振瑞利散射峰强度值I₀，计算ΔI= I–I₀；

（4）以ΔI对Sb(III)的浓度关系做工作曲线；

（5）被测物样品测定：取含有Sb(III)的待测样品，按步骤（1）～（3）操作。算出被测物的ΔI_样＝I_样- I₀；

（6）根据样品测得的ΔI_样，查步骤（4）的工作曲线，计算出被测物中Sb(III)的含量。

实现本发明的原理是：在以硫酸为介质的酸性条件下,NaBH₄将Sb(III)还原成SbH₃，当SbH₃气体通过导管通入含有I₃^-和氧化石墨烯的吸收液时，I₃^-被还原成I^-，剩下的I₃^-减少，随着Sb(III)含量增加，在322 nm处的共振瑞利散射光强度呈线性增强，据此建立了氢化物发生-纳米微粒共振瑞利散射光谱联用技术检测Sb(III)的新方法。