[发明专利]一种基于Eclipse插件的Java源代码缺陷检测方法及其系统在审
申请号: | 201410610811.3 | 申请日: | 2014-11-03 |
公开(公告)号: | CN104461864A | 公开(公告)日: | 2015-03-25 |
发明(设计)人: | 宫云战;朱红;金大海;黄俊飞;王雅文;张大林 | 申请(专利权)人: | 北京邮电大学 |
主分类号: | G06F11/36 | 分类号: | G06F11/36 |
代理公司: | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人: | 李相雨 |
地址: | 100876 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 基于 eclipse 插件 java 源代码 缺陷 检测 方法 及其 系统 | ||
技术领域
本发明涉及软件测试技术领域,尤其涉及一种基于Eclipse插件的Java源代码缺陷检测方法及其系统。
背景技术
软件测试是一种软件质量的保证活动,其动机是使用人工操作或者软件自动运行的方式来检验它是否满足规定的需求,或弄清预期结果与实际结果之间的差别的过程。软件测试通常从两个方面进行,即动态测试和静态测试。而在软件开发过程中我们认为,Bug发现的越晚,修正的成本就越高,测试阶段修正Bug的成本是编码阶段的约4倍的关系。为了减少成本,Bug被发现的越早越好。在编程阶段,静态的分析代码就能找到代码的Bug,是很多人的梦想。
因此,静态测试技术正逐渐受到软件业界的青睐,已成为美国的一种主流的软件测试技术。具有代表性的代码缺陷静态测试工具主要有Stanford大学的研究项目Metal,Maryland大学研发的Java程序静态测试工具FindBugs,开源的Java程序静态测试工具PMD,美国Klocwork公司研发的代码缺陷检测工具K8。
但通过使用上述测试工具,我们会发现,目前代码缺陷检测工具主要是以客户端软件形式存在,用户在使用过程中需要提前安装软件,再将编写好的源代码导入软件内进行缺陷检测,发现代码缺陷后需要返回到开发环境中修改。这种开发环境和测试环境的分离,给开发过程中代码缺陷的及时检测带来了困难。
发明内容
基于上述问题,本发明提供一种基于Eclipse插件的Java源代码缺陷检测方法及其系统,可以在Java开发环境下直接进行代码缺陷的检测,从而提高了软件开发测试的效率。
根据上述目的,本发明提供一种基于Eclipse插件的Java源代码缺陷检测方法,所述方法包括:
S1、将检测插件置入到Eclipse平台;
S2、在所述检测插件的模式数据库中选择预设的缺陷模式和存储路径;
S3、根据所选择的缺陷模式和存储路径,选择所述Eclipse中待测试java文件和/或待测试工程并执行检测;
S4、分析并处理检测结果。
其中,所述步骤S3具体包括:
S31、选择待测试工程,获取所述待测试工程的路径信息,并作为参数传递给缺陷检测线程,所述缺陷检测线程读取所述待测试工程的参数并执行检测;
S32,选择待测试java文件,获取所述待测试java文件的相关路径信息,作为参数传递给所述缺陷检测线程,所述缺陷检测线程读取所述待测试java文件的参数并执行检测。
其中,所述待测试工程的参数包括:所述待测试工程的绝对路径、结果数据库存放路径以及缺陷模式的用户配置结果。
其中,所述待测试java文件的参数包括:所述待测试java文件的绝对路径、结果数据库存放路径以及缺陷模式的用户配置结果。
其中,所述步骤S4包括:将检测结果分类并分别排序,然后对每个检测结果进行判断并保存判断结果。
其中,所述方法还包括:
步骤S5,将处理后的检测结果导出并生成报表文件。
根据本发明的另一个方面,提供一种基于Eclipse插件的Java源代码缺陷检测系统,所述系统包括:
插件置入单元,用于将检测插件置入到Eclipse平台;
参数配置单元,用于在所述检测插件的模式数据库中选择预设的缺陷模式和存储路径;
检测单元,用于根据所选择的缺陷模式和存储路径,分别选择Eclipse中的待测试java文件和/或待测试工程并执行检测;
分析单元,用于对检测结果进行分析和处理。
另外,所述系统还包括:导出单元,用于将处理后的检测结果导出并生成报表文件。
本发明的一种基于Eclipse插件的Java源代码缺陷检测方法及其系统,采用在Eclipse平台安装、配置和使用插件方法,可以在java开发生命周期的早期发现代码缺陷,并直观得将详细信息的展示在开发人员面前,提高了软件开发测试的效率。同时,本发明的方法操作简单,依赖于Eclipse平台,直接安装好插件,重新启动Eclipse,即可使用。
附图说明
通过参考附图会更加清楚的理解本发明的特征和优点,附图是示意性的而不应理解为对本发明进行任何限制,在附图中:
图1示出了本发明的基于Eclipse插件的Java源代码缺陷检测方法的流程图。
图2示出了本发明的基于Eclipse插件的Java源代码缺陷检测方法的步骤S1的流程图。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京邮电大学,未经北京邮电大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410610811.3/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。