[发明专利]高温错位相关系统有效

专利信息
申请号: 201410584450.X 申请日: 2014-10-27
公开(公告)号: CN104330044B 公开(公告)日: 2017-07-28
发明(设计)人: 谢惠民;王怀喜;吴立夫 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G01B11/16 分类号: G01B11/16
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)11201 代理人: 张大威
地址: 100084 北京*** 国省代码: 北京;11
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摘要:
搜索关键词: 高温 错位 相关 系统
【权利要求书】:

1.一种高温错位相关系统,其特征在于,包括:

至少一个加载装置;

高温炉,所述高温炉具有观察窗,所述加载装置各个部分嵌入在所述高温炉内,以使外置光进入所述高温炉内,并使标记点成像在CCD靶面上;

测试样本,所述测试样本表面制作有高温标记点,所述测试样本放置在所述高温炉内且两端与所述加载装置相连,其中,所述高温标记点可承受的最高温度为1400℃,所述高温标记点的形状通过平均灰度梯度评价和图像数值平移优化设计,其中,所述高温标记点的制作过程为:设计不同形状的标记点,并数值平移标记点图像,通过位移相对误差比较图和平均灰度梯度值比较图优化出最佳标记点的形状,通过制模、光刻、显影和镀高温介质膜的方式生成高温标记点,其中,所述平均灰度梯度可通过下式计算:

<mrow><msub><mi>&delta;</mi><mi>g</mi></msub><mo>=</mo><munderover><mo>&Sigma;</mo><mrow><mi>i</mi><mo>=</mo><mn>1</mn></mrow><mi>M</mi></munderover><munderover><mo>&Sigma;</mo><mrow><mi>j</mi><mo>=</mo><mn>1</mn></mrow><mi>N</mi></munderover><mo>|</mo><mi>g</mi><mrow><mo>(</mo><msub><mi>x</mi><mrow><mi>i</mi><mi>j</mi></mrow></msub><mo>)</mo></mrow><mo>|</mo><mo>/</mo><mrow><mo>(</mo><mi>M</mi><mo>&times;</mo><mi>N</mi><mo>)</mo></mrow><mo>,</mo></mrow>

其中,M和N为散斑图的高度和宽度,其单位均为像素,xij表示某一像素点,i和j分别表示该像素点位于数字图像的第i行第j列,g(xij)为局部灰度梯度向量;

远心错位成像镜头,用于将所述高温标记点错位并成像,所述远心错位成像镜头包括镜筒、凹透镜、凸透镜、光阑以及楔形镜,其中,根据测试对象的变形要求选取适当错位置的楔形镜,使高温标记点成像到同一个CCD靶面内;以及

数字成像设备,所述数字成像设备与所述远心错位成像镜头相连,所述数字成像设备包括靶面,所述靶面用于采集所述图像。

2.根据权利要求1所述的高温错位相关系统,其特征在于,通过数字相关方法计算标记点的相对位移,以得到所述测试样本的应变信息。

3.根据权利要求2所述的高温错位相关系统,其特征在于,具体包括:

根据所述数字成像设备的靶面得到测试样本图像,并分别计算标记点A和A的位移量和则测试样本的应变信息通过以下公式计算:

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