[发明专利]一种基于CT扫描的深部岩石取样方法在审

专利信息
申请号: 201410579724.6 申请日: 2014-10-24
公开(公告)号: CN104266862A 公开(公告)日: 2015-01-07
发明(设计)人: 严鹏;何艳丽;卢文波;陈明 申请(专利权)人: 武汉大学
主分类号: G01N1/08 分类号: G01N1/08
代理公司: 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 代理人: 温珊姗
地址: 430072 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要:
搜索关键词: 一种 基于 ct 扫描 岩石 取样 方法
【权利要求书】:

1.一种基于CT扫描的深部岩石取样方法,其特征在于包括如下步骤:

⑴在浅埋深条件下或大块岩石中取得与目标取样地点岩性和地质条件相同的大直径岩样3-5组,每组5个岩样,利用CT扫描方法获得无损岩样的CT特征曲线;

⑵在工程现场选定需要取样的位置,通过高应力常规取样得到初始岩样;对初始岩样进行CT扫描,每个岩样从顶部到底部等距分设5~10个扫描横断面,每个扫描横断面划分为多个同心圆统计圈,获得初始岩样各横断面不同直径同心圆的CT特征曲线;

⑶对比、分析步骤⑴和⑵的曲线图,确定岩样的损伤程度和范围;

⑷采用套钻方法获得无损伤岩芯。

2.如权利要求1所述的一种基于CT扫描的深部岩石取样方法,其特征在于:所述大直径岩样的直径为150mm-300mm。

3.如权利要求1所述的一种基于CT扫描的深部岩石取样方法,其特征在于:所述CT特征曲线包括平均CT数分布曲线、CT数方差分布曲线和CT数尖峰值分布曲线。

4.如权利要求1所述的一种基于CT扫描的深部岩石取样方法,其特征在于:所述同心圆统计圈为8个。

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