[发明专利]一种矿石可用性分析的方法

说明书

技术领域

本发明涉及矿石可用性分析技术领域，尤其涉及一种矿石可用性分析的方法。

背景技术

我国总铁矿资源量不少，但能够比较容易利用的铁资源不多，目前能够比较经济的利用的铁资源不能满足我国经济高速增长的需求，故每年我国大量进口国外铁矿石，随着中国铁矿石需求量的增加，国外铁矿石生产商大规模提价，给我国钢铁企业造成巨大经济负担。立足国内资源，立足技术进步，开发利用我国较难利用的铁资源，是我国钢铁企业摆脱国外铁矿石生产商对铁矿石价格垄断、取得铁矿石定价话语权的关键。

我国鄂西宁乡式鲕状赤铁矿储量大，品位高，可露天开采，但磷含量高，为高磷鲕状赤铁矿，赤铁矿嵌布粒度细，且赤铁矿磁性不佳，这使得此矿石选矿难度大。

目前通常采用的分析矿石可利用性的手段为测定矿石中目标矿物的嵌布粒度分布和测定磨矿产品的目标矿物的解离度，通过矿石中目标矿物嵌布粒度的在粗细粒级间的分布百分比和同样磨矿细度磨矿产品中目标矿物解离度的高低来判断矿石的可利用性。

相应的测定矿石中目标矿物的嵌布粒度分布特征可以通过在块状样品上采用“拉线”法的方式实现。具体地，可以选择粒径3-5厘米的矿石碎块50块左右，将50左右块矿石通过切割、粗磨、细磨和抛光工艺加工成边长3厘米左右的磨光块(称为光片)，将光片通过光学显微镜或扫描电子显微镜在260-400倍放大倍率下观察测量。在显微镜视域中心有一条带刻度的横线，可读取线上两点间长度，光片中目标矿物颗粒被此横线所截过的长度即定义为一个目标矿物颗粒的粒度，把这一粒度数值记录在相应的粒级中，此条线连续通过光片的横向长度，连续测量每个被此线截过的目标矿物颗粒，在光片的纵向上每隔3毫米测一条横向线，直到间隔3毫米的直线遍布测完整个光片，接下来测量其它光片，直到把50左右块光片全部测量完毕。接下来可统计矿石中目标矿物的粒度分布，把同一粒级中测得的所有颗粒的粒度加和得到此粒级总量，把每个粒级总量加和得到所有粒级总和量，某粒级总量与所有粒级总和量的比值，即目标矿物在此粒级的分布百分率。从而得到矿石中目标矿物嵌布粒度分布表。

在下面的表1中，为一种鄂西鲕状赤铁矿中非鲕状赤铁矿颗粒嵌布粒度分布情况。

表1

根据上述非鲕状赤铁矿颗粒嵌布粒度分布情况表便可以对相应的鄂西鲕状赤铁矿进行矿石的可利用性的判定。

相应的测定磨矿产品的目标矿物的解离度的可利用性分析手段则是针对不同磨矿细度的磨矿产品，磨矿产品的细度由磨矿产品通过200目筛子的部分占总磨矿产品的总重量百分比来表示，一般用“-200目占60％”表示一个磨矿产品的磨矿细度，表示产品磨到了过200目筛的部分的重量占磨矿产品总重量的60％。

磨矿产品中针对目标矿物解离度的测量是在环氧树脂片下进行。缩分一定量的磨矿产品，磨矿产品都为粉状样品，粉状样品加入到盛有环氧树脂的模具中，充分搅拌使粉状样品充分分散均匀，等环氧树脂固结，样品被镶嵌在环氧树脂中，把镶嵌了样品的环氧树脂块经粗磨、细磨及抛光加工过程，得到环氧树脂片，同样在光学显微镜或扫描电镜下通过“拉线”法测定磨矿产品中目标矿物的解离度。磨矿产品为粉状样品，它有一颗颗“矿石颗粒”组成，矿石颗粒可以有单一矿物颗粒组成，也可以一个矿石颗粒由几个矿物颗粒组成，只有目标矿物一种矿物组成的矿石颗粒定义为目标矿物的单体颗粒，由目标矿物和其它一种或几种非目标矿物所组成的矿石颗粒称目标矿物的连生体颗粒，单体目标矿物量占目标矿物总量(单体目标矿物量与连生体中目标矿物量的和)的重量百分比定义为目标矿物的解离度。

通过上述测定的矿石中目标矿物嵌布粒度分布和不同磨矿细度磨矿产品目标矿物解离度数据就可以评价矿石可利用性。即目标矿物(即选矿过程中需要选出的目标矿物)在矿石中嵌布粒度在粗粒级所占比例越高、在细粒级别所占比例越低，矿石的可利用性越好；对于同一磨矿细度磨矿产品目标矿物解离度越高，矿石的可利用性越好。

然而，在利用上述技术方案进行矿石可用性分析的过程中，对于由赤铁矿和鲕绿泥石互层呈同心环状结构的鲕状赤铁矿鲕粒，从扫描电镜下放大6000倍可以看出其赤铁矿呈针状嵌布，赤铁矿的粒度短径方向长约0.5微米左右。对于这样的矿石如果按照现有的方案测量赤铁矿的嵌布粒度，则大部分粒度分布在10微米以下级别，且测量解离度则会出现解离度很小的结果，因而，无法通过这些数据判断能否得到合格铁精矿，即无法准确判断矿石的可用性。而且测量统计这样细粒度的赤铁矿会耗时很长，使得通过上述方案进行矿石可用性分析的效率大大降低。

发明内容