[发明专利]一种EDFA瞬态测试方法

权利要求书

1.一种EDFA瞬态测试方法，用于测试EDFA的瞬态特性，其特征在于：ASE Source（101）产生平坦的宽谱ASE光，经过一个1X2的波长选择光开关（102）后，产生两路多波长信号光源，对产生的两路多波信号光源，一路进行强度调制，作为上下波通道，另外一路用作待监控通道；两路信号光用光耦合器（110）合波后，用作瞬态特性测试的信号光源；产生的信号光源经过待测的EDFA后，进入一个2X1的波长选择光开关（109），滤出需要求检测的波长光信号，经过光电转换，进入对数转换电路或者跨导转换电路（107），用数字示波器（108）进行检测。

2.根据权利要求1所述的瞬态测试方法，其特征在于：ASE光源（101）进入1X2的波长选择光开关（102）后产生两路波长可选择的多波光源，一路用作上下波（add/drop）光信号，另外一路用作监控波长光信号。

3.根据权利要求1所述的瞬态测试方法，其特征在于：平坦的ASE光源进入1X2的波长选择光开关（102）后，通过设置1X2的波长选择光开关（102）的各个通道的电压来调节各个通道的光衰减值来选择两臂输出的光信号波长，并且能对两臂输出的多波信号的斜率根据测试需求进行调节。

4.根据权利要求1所述的瞬态测试方法，其特征在于：经过1X2的波长选择光开关（101）产生的两路多波光信号，一路经过声光调制器（104）调制，信号发生器（103）产生测试要求的瞬态上下路（add/drop）波形，用作调制信道；另一路用作存在波长信道（监控波长信道）。

5.根据权利要求1所述的瞬态测试方法，其特征在于：待测EDFA的输出光信号，直接进入2X1的波长选择光开关（109），通过调节2X1的波长选择光开关（109）各个通道的衰减值来滤出待分析的波长的信号光；具体方法为：将待分析波长通道的衰减值调节到最小，并将其他波长信道的衰减值调节到最大。