[发明专利]X射线断层扫描方法和系统

权利要求书

1.一种X射线断层扫描方法，所述方法包括：

通过控制多焦斑X射线源的场发射单元的阴极与栅极间的电压，控制所述多焦斑X射线源从不同发射源点位置向被检测对象发射X射线进行扫描；

利用平板探测器接收透过所述被检测对象的X射线，获得多角度的X射线投影图像；

采集所述X射线投影图像的数据，并对采集到的数据进行重建得到所述被检测对象的断层图像。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述多焦斑X射线源包含多个发射源点，在扫描过程中使用部分发射源点，扫描模式包括均匀模式和非均匀模式。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述多焦斑X射线源还包括阴极和阳极靶，其中所述阴极对应所在位置具有旋转角度，所述阳极靶的多个靶面分别与对应的阴极方向相同且所有靶面倾角相同，所述发射源点发射出的X射线光轴朝向扫描中心点。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述通过控制多焦斑X射线源的场发射单元的阴极与栅极间的电压，控制所述多焦斑X射线源从不同发射源点位置向被检测对象发射X射线进行扫描的步骤之后，还包括：

根据所述发射源点与所述扫描中心点之间的距离调节所述发射源点的mAs值。

5.根据权利要求2或3所述的方法，其特征在于，所述多焦斑X射线源还包括限束器，所述通过控制多焦斑X射线源的场发射单元的阴极与栅极间的电压，控制所述多焦斑X射线源从不同发射源点位置向被检测对象发射X射线进行扫描的步骤之后，还包括：

通过所述限束器控制所述发射源点发射出的X射线覆盖所述平板探测器的成像区域，且限束后的X射线边界在所述被检测对象的边缘。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述多焦斑X射线源通过金属腔体封装；所述通过控制多焦斑X射线源的场发射单元的阴极与栅极间的电压，控制所述多焦斑X射线源从不同发射源点位置向被检测对象发射X射线进行扫描的步骤之前，还包括：

通过控制机械泵与分子泵将所述金属腔体内抽至高真空；

检测所述金属腔体内的真空度是否小于预设值；

若是，则关闭所述金属腔体的闸板阀，开启离子泵，维持所述金属腔体内的真空度。

7.一种X射线断层扫描系统，其特征在于，所述系统包括：

扫描模块，用于通过控制多焦斑X射线源的场发射单元的阴极与栅极间的电压，控制所述多焦斑X射线源从不同发射源点位置向被检测对象发射X射线进行扫描；

图像获取模块，用于利用平板探测器接收透过所述被检测对象的X射线，获得多角度的X射线投影图像；

成像模块，用于采集所述X射线投影图像的数据，并对采集到的数据进行重建得到所述被检测对象的断层图像。

8.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述多焦斑X射线源包含多个发射源点，在扫描过程中使用部分发射源点，扫描模式包括均匀模式和非均匀模式。

9.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，所述多焦斑X射线源还包括阴极和阳极靶，其中所述阴极对应所在位置具有旋转角度，所述阳极靶的多个靶面分别与对应的阴极方向相同且所有靶面倾角相同，所述发射源点发射出的X射线光轴朝向扫描中心点。

10.根据权利要求9所述的系统，其特征在于，所述系统还包括：

调节模块，用于根据所述发射源点与所述扫描中心点之间的距离调节所述发射源点的mAs值。

11.根据权利要求8或9所述的系统，其特征在于，所述多焦斑X射线源还包括限束器，所述系统还包括：

限束模块，用于通过所述限束器控制所述发射源点发射出的X射线覆盖所述平板探测器成像区域，且限束后的X射线边界在所述被检测对象的边缘。

12.根据权利要求7所述的系统，其特征在于，所述多焦斑X射线源通过金属腔体封装，所述系统还包括：

真空控制模块，用于通过控制机械泵与分子泵将所述金属腔体内抽至高真空；

检测模块，用于检测所述金属腔体内的真空度是否小于预设值；

所述真空控制模块还用于若所述金属腔体内的真空度小于预设值，则关闭所述金属腔体的闸板阀，开启离子泵，维持所述金属腔体内的真空度。