[发明专利]超高速光采样时钟的多通道失配测量方法及测量补偿装置

权利要求书

1.一种超高速光采样时钟的多通道失配测量方法，其特征在于，该方法包括如下步骤：

步骤1、利用1×2光纤耦合器(2)将待测多通道光脉冲信号序列分为2路，一路多通道光脉冲信号序列输入至光谱分析仪(3-1)，另一路将多通道光脉冲信号序列通过光电探测器(4-1)输入至电频谱分析仪(4-2)，所述的光谱分析仪(3-1)和电频谱分析仪(4-2)将输入信号的测量结果分别输出至数据分析与处理模块(5)；

步骤2、计算各通道中的幅值a_k，k＝1,2,…,M，M为通道总数，公式如下：

ak=|∫-∞+∞Ek(f)df|2---(17)]]>

其中，E_k(f)为第k通道中光谱分析仪测得的光频谱；

计算各通道中的其为u_k(t)的傅里叶变换，u_k(t)为第k通道中脉冲的归一化波形，f为频谱，t为时间，公式如下：

u~k(f)=|Ek(f)|2max{|Ek(f)|2}---(18)]]>

步骤3、计算延时误差τ_k，公式如下：

10log10PM(τ1,τ2,...,τM)Pk(τ1,τ2,...,τM)=CM-Ck,k=1,2,...,Mτ1=0---(19)]]>

其中C_k为电频谱分析仪测得的M个频谱峰值，k＝1,2,…,M，P_k为射频谱在[0,f_s]区间上M个峰值：

Pk=(RPDMTs)2|Σl=1Malu~l(kfs/M)e-j2π(kfs/M)τle-j2πk(l-1)/M|2,k=1,2,...,M---(20)]]>

其中，M为通道总数，T_s为采样周期，f_s＝1/T_s，R_PD为光电探测器的响应度。