[发明专利]一种塑料颗粒用分析天平

说明书

技术领域

本发明涉及一种天平，尤其涉及一种塑料颗粒用分析天平。

背景技术

分析天平主要用于测量产品的质量以观察其物理属性。然而由于塑料颗粒其本身的因素，使得使用分析天平在进行测量塑料颗粒时，使用不方便，且难以进行准确测量。

因此，有必要提供一种新的技术方案以克服上述缺陷。

发明内容

本发明的目的在于提供一种结构简单且测量方便的塑料颗粒用分析天平。

为实现上述目的，本发明采用如下技术方案：一种塑料颗粒用分析天平，所述塑料颗粒用分析天平包括框体、位于所述框体下方的支撑脚、位于所述支撑脚之间的收集箱、位于所述框体右侧的手持块、与手持快固定连接的连接杆、设置于所述连接杆上的电机、与电机连接的卡勾、设置于所述框体上表面的固定柱、固定柱所支撑的漏斗、设置于所述漏斗内的缓冲片、设置于所述框体内的支撑柱、托盘、与托盘固定连接的托杆、位于所述支撑柱一侧的收容柱、位于所述支撑柱右侧的固定架及延伸臂，所述位于所述支撑柱左侧的托杆下方设有一通槽。

所述框体呈长方体。

所述支撑脚的上表面与所述框体的下表面固定连接。

所述收容柱的上端向左倾斜，所述收容柱与所述支撑柱之间形成一开口。

所述延伸臂位于所述固定架的下方，所述延伸臂呈L型。

所述手持块呈长方体且位于所述框体外。

与现有技术相比，本发明具有如下有益效果：本发明塑料颗粒用分析天平由于结构简单，使用方便，提高了工作效率，满足了用户的需求。

附图说明

图1为本发明塑料颗粒用分析天平的结构示意图。

具体实施方式

如图1所示，本发明塑料颗粒用分析天平主要包括框体1、位于所述框体1下方的支撑脚2、位于所述支撑脚2之间的收集箱3、位于所述框体1右侧的手持块5、与手持快5固定连接的连接杆6、设置于所述连接杆6上的电机7、与电机7连接的卡勾8、设置于所述框体1上表面的固定柱16、固定柱16所支撑的漏斗4、设置于所述漏斗4内的缓冲片15、设置于所述框体1内的支撑柱13、托盘10、与托盘10固定连接的托杆11、位于所述支撑柱13一侧的收容柱17、位于所述支撑柱13右侧的固定架19及延伸臂21。

如图1所示，所述框体1呈长方体。所述支撑脚2的上表面与所述框体1的下表面固定连接。所述收集箱3上表面向下凹陷形成一凹槽。所述支撑柱13的下表面与所述框体1的下内壁固定连接，所述支撑柱13的上表面固定连接有仪表盘14，用于显示质量。所述托盘10位于所述支撑柱13的两侧，且其上表面的两端设有呈倾斜的挡板。所述托盘10的下表面设有托杆11。所述托杆11及托盘10可以转动。所述位于所述支撑柱13左侧的托杆11下方设有一通槽12，其与所述托盘10的上表面相通。所述托杆11的另一端设有开口。所述支撑柱13的左侧还设有一收容柱17，所述收容柱17的上端向左倾斜。所述收容柱17与所述支撑柱13之间形成一开口20，使得测试完的塑料颗粒从此流出。所述支撑柱13右侧设有一固定架19，所述固定架19的一端与所述框体1的下内壁固定连接，所述固定架19与所述框体1的左内壁之间形成一通道，使得测试完成后砝码落至所述延伸臂21上。所述延伸臂21位于所述固定架19的下方，所述延伸臂21呈L型。所述手持块5呈长方体且位于所述框体1外。所述连接杆6一端与所述手持块5的左表面固定连接，另一端穿过所述框体1的右壁延伸至所述框体1内与所述电机7固定连接，所述电机7与所述卡勾8连接使得所述卡勾8可以上下移动，从而将延伸臂21上的砝码勾住然后送至右侧的托盘上。所述固持柱为成分那个题，所述漏斗15上部分等腰梯形，下部分为圆柱体。所述圆柱体部分内侧设有缓冲片，以使得塑料颗粒缓慢落至所述左侧的托盘上。

如图1所示，本发明塑料颗粒用分析天平工作时，首先将塑料颗粒放置漏斗15上，待塑料颗粒全部落至左侧托盘10后，加至砝码使得两托盘平行，待测量完毕后，使用卡勾8继续勾住砝码放置右侧的托盘10，直至右侧托盘顶靠在所述固定架19上。然后左侧托盘10内的塑料颗粒通过通槽12落至所述收集箱4内，同时砝码不断的同所述右侧托盘10上滑落，通过所述固定架19落至所述延伸臂21上，至此本分析天平的工作过程结束。

显然，上述实施例仅仅是为了清楚地说明所作的举例，而并非对实施方式的限定。对于所属领域的普通技术人员来说，在上述说明的基础上还可以做出其他不同形式的变化或者变动。这里无需也无法对所有实施方式予以穷举。而由此所引申出的显而易见的变化或者变动仍处于本发明创造的保护范围之中。