[发明专利]一种大孔径空间外差干涉光谱成像仪基准波数定标方法有效
申请号: | 201410564597.2 | 申请日: | 2014-10-21 |
公开(公告)号: | CN104266758A | 公开(公告)日: | 2015-01-07 |
发明(设计)人: | 杜述松;相里斌;才啟胜;张金刚 | 申请(专利权)人: | 中国科学院光电研究院 |
主分类号: | G01J3/45 | 分类号: | G01J3/45;G01J3/02 |
代理公司: | 北京凯特来知识产权代理有限公司 11260 | 代理人: | 郑立明;郑哲 |
地址: | 100080 *** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 孔径 空间 外差 干涉 光谱 成像 基准 定标 方法 | ||
1.一种大孔径空间外差干涉光谱成像仪基准波数定标方法,其特征在于,该方法包括:
利用一波数与所述大孔径空间外差干涉光谱成像仪的基准波数一致的激光器发射光线;
所述激光器的发射光线经由准直系统后射入所述大孔径空间外差干涉光谱成像仪中;
采集所述大孔径空间外差干涉光谱成像仪的输出光谱并利用光谱复原算法实现对所述大孔径空间外差干涉光谱成像仪基准波数的定标。
2.根据权利要求1所述定标方法,其特征在于,所述利用光谱复原算法实现对所述大孔径空间外差干涉光谱成像仪基准波数的定标包括:
通过所述光谱复原算法从所述大孔径空间外差干涉光谱成像仪的输出光谱中获得激光器发射光线的光谱,并与已知光谱线对比,确定所述大孔径空间外差干涉光谱成像仪的实际最小波数,从而实现对所述大孔径空间外差干涉光谱成像仪基准波数的定标。
3.根据权利要求1或2所述定标方法,其特征在于,
当所述激光器的波数等于所述大孔径空间外差干涉光谱成像仪的基准波数时,所述大孔径空间外差干涉光谱成像仪的输出光谱为近似的直流分量;若不相等,则输出明暗相间的干涉条纹。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院光电研究院,未经中国科学院光电研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410564597.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。