[发明专利]一种数据处理方法和装置有效

专利信息
申请号: 201410562261.2 申请日: 2014-10-21
公开(公告)号: CN104352244A 公开(公告)日: 2015-02-18
发明(设计)人: 孙智鹏 申请(专利权)人: 沈阳东软医疗系统有限公司
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 王宝筠
地址: 110179 辽*** 国省代码: 辽宁;21
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摘要:
搜索关键词: 一种 数据处理 方法 装置
【说明书】:

技术领域

发明涉及数据处理领域,特别是涉及一种数据处理方法和装置。

背景技术

医疗成像装置根据注入体内的放射性核素在衰变过程中产生的正电子湮灭辐射和符合探测原理可以得到体内的断层影像,比如说典型的正电子发射型计算机断层成像(Positron Emission Computed Tomography,PET)装置。

在正电子湮灭时,会生成几乎背对背运行的两个γ光子。每一个γ光子被PET的探测器探测到就被标记为一个单事件。根据这个单事件发生时所产生的大量数据,可以判断出这个单事件是否是通过正电子湮灭所产生。当判断出一个单事件是通过正电子湮灭产生的时,用于判断的该单事件的数据确定为即时符合数据。现有判断即时符合数据的方式使得所述即使符合数据中除了包含真符合数据以外,还包含了大量的随机符合数据和散射符合数据,其中,如果由一个正电子湮灭产生的两个γ光子,且在行进过程中没有产生康普顿散射,在探测器上形成的数据,叫做真符合数据。如果若干个正电子在同一时刻或很相近的时刻内发生湮灭,几乎同时产生若干对的γ光子中,很可能有两个不是同一正电子湮灭时产生的γ光子被探测器判定为符合,这样的意外符合事件叫做随机符合,符合随机符合的γ光子在探测器上形成的数据,叫做随机符合数据。如果一对γ光子中的一个或者两个光子在飞行过程中发生康普顿散射,改变了自身的飞行轨迹并降低了自身能量,由于探测器能量分辨率有限,一部分能量改变不大的事件会被误认为真符合事件并记录下来。符合这种情况的γ光子在探测器上形成的数据,叫做散射符合数据。为了去除这些无效数据,需要将其准确的计算出来。

所述调整主要依靠对所述随机符合数据的准确计算,如果随机符合数据的判断存在误差,那么就会对校正结果带来影响,然而,目前没有准确的计算随机符合数据的方法。

发明内容

为了解决上述技术问题,本发明提供了一种数据处理方法和装置,提高确定散射符合数据的准确程度。

本发明实施例公开了如下技术方案:

一种数据处理方法,所述方法包括:

分析弦图的分界,确定出所述弦图中包含真符合数据的区域与不包含所述真符合数据的区域之间的边界,所述弦图为通过透射扫描得到的投影图;

获取所述不包含真符合数据区域中的即时符合数据,通过所述即时符合数据确定出散射分布数据和随机符合数据;

对所述即时符合数据进行处理,具体为:

步骤1:为所述散射分布数据设定第一校正因子,为所述随机符合数据设定第二校正因子,根据所述第一校正因子和所述第二校正因子进行差值计算得到的结果为第一误差值,所述差值计算为所述即时符合数据减去所述散射分布数据和随机符合数据;

步骤2:只调整所述第二校正因子,使得根据调整后的第二校正因子和所述第一校正因子进行所述差值计算得到的结果最小;

步骤3:根据所述调整后的第二校正因子和所述第一校正因子进行所述差值计算得到的结果为第二误差值;

步骤4:比较所述第一误差值和所述第二误差值之间的差值,若所述差值处于预设范围内,则利用所述调整后的第二校正因子在包含真符合数据的即时符合数据中确定随机符合数据;

若所述差值处于预设范围外,则将所述调整后的第二校正因子作为所述第二校正因子,重新执行所述步骤1。

优选的,在所述步骤1和所述步骤3之间,还包括步骤2a:

步骤2a:只调整所述第一校正因子,使得根据所述第二校正因子和调整后的第一校正因子进行所述差值计算得到的结果最小;

所述步骤3具体为:根据所述调整后的第一校正因子和所述调整后的第二校正因子进行所述差值计算得到的结果为第二误差值;

所述步骤4具体为:比较所述第一误差值和所述第二误差值之间的差值,若所述差值处于预设范围内,则利用所述调整后的第一校正因子在所述包含真符合数据的即时符合数据中确定散射分布数据以及利用所述调整后的第二校正因子在所述包含真符合数据的即时符合数据中确定随机符合数据;

若所述差值处于预设范围外,则将所述调整后的第一校正因子作为所述第一校正因子,将调整后的第二校正因子作为所述第二校正因子,重新执行所述步骤1。

优选的,若所述差值处于预设范围内,还包括:

对所述调整后的第二校正因子进行第一校验,以及利用所述调整后的第一校正因子和所述调整后的第二校正因子对所述即时符合数据、所述散射分布数据和所述随机符合数据进行第二校验;

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