[发明专利]一种基于ITP工具的Memory Rank Spare测试方法

权利要求书

1.一种基于ITP工具的Memory Rank Spare测试方法，其特征在于，其具体实现过程为：

一、准备Windows测试机和Windows控制端；

二、用ITP工具连接测试机和控制端；

三、测试机上电开机，进入BIOS Setup界面；

四、将所要设为spare的内存rank设置为[Enabled]，同时设置阈值Spare Error Threshold；

五、保存设置后退出，重启测试机，待测试机进入Windows系统；

六、在控制端输入指令，给测试机内存上设置了spare的rank注入单bit ECC Error；

七、待注错结束后，输入指令查看该Rank上ECC Error数目，由于此rank目前作为热备且没有工作，Error数目为0，即保持不变；

八、再给该内存中没有设置为Spare的其它Rank注入单bit ECC Error；

九、待注错结束后，查看相应内存中的rank上ECC Error数目增加1；

十、继续给该内存中没有设置为Spare的Rank注入单Bit ECC Error，直至error数目达到BIOS中设定的阈值；

十一、输入指令查看该相应内存中的Rank上ECC Error数目变为0；

十二、继续给该Rank注错，查看该Rank上的ECC Error数目为0保持不变；

十三、再重新给设置为Spare的Rank注入单bit ECC Error；

十四、输入指令查看相应内存中的ECC Error数目增加1。

2.根据权利要求1所述的一种基于ITP工具的Memory Rank Spare测试方法，其特征在于，所述Windows测试机是指安装Windows操作系统的测试平台；Windows控制端是指安装 .Netframework3.5和.Netframework4.0、安装工具Intel? Platform Debug Toolkit，并且拷贝Cscripts脚本的Windows控制端平台。

3.根据权利要求2所述的一种基于ITP工具的Memory Rank Spare测试方法，其特征在于，所述步骤二的详细过程为：将测试平台断电，然后将ITP工具的数据线XDP接口端插在主板的XDP接口，USB口插在控制端的USB端口上，并插上ITP电源。

4.根据权利要求2所述的一种基于ITP工具的Memory Rank Spare测试方法，其特征在于，所述步骤六及步骤十三中给内存的Rank注入单bit ECC Error过程均为：

在控制端打开工具Intel? Platform Debug Toolkit中的Config Console，选择系统相应的平台后，点击Apply连接上测试机；

控制端系统中打开Cscripts脚本文件中的Python控制台startivt_oem.py；

Python控制台中输入指令，给设置为Spare的Rank注入单bit ECC Error。