[发明专利]基于二进制分子通信模型的多播可靠性确定方法有效
申请号: | 201410558844.8 | 申请日: | 2014-10-20 |
公开(公告)号: | CN104378180B | 公开(公告)日: | 2017-09-05 |
发明(设计)人: | 程珍;池凯凯;李燕君;朱艺华;田贤忠 | 申请(专利权)人: | 浙江工业大学 |
主分类号: | H04L1/16 | 分类号: | H04L1/16;H04L12/18 |
代理公司: | 杭州斯可睿专利事务所有限公司33241 | 代理人: | 王利强 |
地址: | 310023 浙江省杭州市西湖*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 二进制 分子 通信 模型 可靠性 确定 方法 | ||
1.一种基于二进制分子通信模型的多播可靠性确定方法,其特征在于:所述可靠性确定方法包括如下步骤:
第一步,分析单链路拓扑结构在链路成功下的可靠性
在二进制分子通信模型中,用传输不同的分子类型来代表比特0或1的发送,发送方纳米机器释放分子后,分子在介质中以布朗形式运动,一个分子从发送方纳米机器到距离为d的接收方纳米机器所需时间t的概率密度分布函数f(t)为:
其中,d为发送方纳米机器与接收方纳米机器之间的距离,D为生物环境扩散系数;
该概率密度分布函数对应的累积分布函数F(t)为:
对于单链路的两个纳米机器之间的传输,链路的可靠性定义为接收方纳米机器收到至少一个分子的概率,用βij表示,由下述公式计算:
βij=1-(1-F(τ))nN
其中,N为发送方纳米机器在每个slot释放分子的个数,T为传输时间,把T分成n个时隙,T=nτ,n为time slot的个数,τ为每个time slot持续的时间;
第二步,分析单路径拓扑结构在链路成功下的可靠性
对于单路径拓扑结构,单路径的可靠性为保证每条链路是可靠的情况下的概率,计算公式为:
其中,rs为单路径所包含每一条链路的可靠性值的集合;
第三步,分析多路径拓扑结构在链路成功下的可靠性
对于多路径拓扑结构的可靠性,即为要求至少有一条路径是可靠的,时延定义为接收方纳米机器至少收到一个分子所需的时间,假设分子是从相同的发送方纳米机器发送的,经过m条路径s1,s2,…,sm达到相同的接收方纳米机器,则此时多路径拓扑结构的可靠性,用βRNj表示,j=1,2,…p,计算公式为:
其中,为路径si的可靠性;
第四步,分析多播拓扑结构在链路成功下的可靠性
从相同的发送方纳米机器TN到不同的p个接收方纳米机器RN1,RN2,…,RNp的可靠性分别为βRN1,βRN2,…,βRNp,βRN1,βRN2,…,βRNp按照第三步的计算公式求得,则此多播拓扑结构下的可靠性用βMulticast表示,计算公式分别为:
βMulticast=βRN1βRN2...βRNp。
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