[发明专利]一种用于测量结构变形的测量方法

说明书

技术领域

本发明属于航空结构设计领域，特别是涉及到一种在航空结构试验时结构三维空间变形的测量方法。

背景技术

航空结构在设计过程中，需要进行大量的研发或验证试验，包括结构功能、结构选型以及结构强度试验等，试验所得到的数据为改进设计提供依据。其中结构变形是最重要的试验数据之一。只有保证了保证试验数据的准确性，试验才可以发挥应有的作用，才能为设计人员提供正确的依据。

现有的结构变形测量手段常见的有位移计测量和红外仪测量。位移计测量，成本较低，操作方便，测量过程直观。但是使用位移计测量时，只能测量沿位移计布置方向的单向位移，而且结构变形后位移计测量方向可能发生变化，造成测量结果不准确；另外，有的情况，在需要测量位移的方向无法布置测量计，此时必须采用其它的测量方法。红外仪测量可以测量三向位移，但是成本较高，且操作复杂，测量过程不直观，有问题时无法及时发现。

因此在进行航空结构试验时需要一种用于测量结构变形的测量方法。

发明内容

本发明的技术方案是：一种用于测量结构变形的测量方法，包括以下步骤：

步骤一.确定试验件待测量点未变形时点A₀的几何位置(X_A0，Y_A0，Z_A0)；

步骤二.在待测量点引出三条不共面的射线，在每条射线方向上布置一个位移测量计，位置分别标记为点B、C、D，坐标为：

(X_B，Y_B，Z_B)，(X_C，Y_C，Z_C)，(X_D，Y_D，Z_D)；

步骤三.计算未变形时待测量点A₀距每个位移测量计B、C、D的距离L₁,L₂,L₃；

步骤四.结构变形后读出每个位移测量计的位移值D₁,D₂,D₃；

步骤五.假设结构变形后位移测量点A₁的几何位置为(X_A1，Y_A1，Z_A1),则有以下方程组: